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申请/专利权人：全芯智造技术有限公司
摘要：一种芯片失效模式的确定方法、终端，所述方法包括：获取芯片在多个测试电压下的失效比特；对所获取到的失效比特进行失效模式运算，获得至少一个失效比特组以及每一个失效比特组的失效模式，其中，所述失效比特组包括至少一个测试电压下的失效比特；基于所述失效比特组的失效模式，确定所述失效比特组中失效比特的失效模式。通过本发明方案能够提高芯片失效分析的准确度。
主权项：1.一种芯片失效模式的确定方法，其特征在于，包括：获取芯片在多个测试电压下的失效比特；对所获取到的失效比特进行失效模式运算，获得至少一个失效比特组以及每一个失效比特组的失效模式，其中，所述失效比特组包括至少一个测试电压下的失效比特；基于所述失效比特组的失效模式，确定所述失效比特组中失效比特的失效模式。
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百度查询： 全芯智造技术有限公司 芯片失效模式的确定方法、终端
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