买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

申请/专利权人：中国石油天然气股份有限公司吉林油田分公司;数岩科技股份有限公司

摘要：本发明提供了一种基于钻井岩石样品确定水平井压裂位置的方法，其采用扫描电镜显微镜图像获取地下岩石结构信息，基于X射线能量散射谱信号识别矿物成分，并基于岩石储集空间结构和矿物成分计算表征储层品质的储层品质指数，最终基于储层品质指数值的大小确定压裂位置。本发明构思合理，流程简单，矿物成分的识别由间接的元素识别，变成了更为准确的成分直接识别，成本更低，适用于所有类型的钻井。

主权项：1.一种基于钻井岩石样品确定水平井压裂位置的方法，其特征在于：采用扫描电镜显微镜图像获取地下岩石结构信息，基于X射线能量散射谱信号识别矿物成分，并基于岩石储集空间结构和矿物成分计算表征储层品质的储层品质指数，最终基于储层品质指数值的大小确定压裂位置；具体包括以下步骤：1对采集的岩屑样品依次进行筛选、清洗、环氧树脂固化、表面抛光以及镀导电膜，确保样品可进行后续的扫描电子显微镜图像采集；2对岩屑样品开展扫描电镜显微镜成像和基于X射线的能量散射谱矿物成分定量识别；3基于扫描电镜图像进行图像分割，确定裂缝和孔隙在岩屑样品中的面积占比，即二维面孔率；在获取完所有样品的面积占比后，进行归一化处理，将面孔率的最高值乘以系数p，使最高值变为100；最后将二维面孔率乘以系数p后的数值定义为孔隙发育指数Pi；4基于矿物成分和孔隙特征，获取岩石样品的脆性指数Bi；5基于不同深度点的孔隙发育指数Pi和脆性指数Bi,计算出储层品质指数Qi,随后根据Qi值的大小确定压裂设计时的射孔位置；所述步骤4中的脆性指数Bi的计算过程为：Bi＝XQ+XF+XC+XD+XP×1001；上式1中，Bi为岩石矿物脆性指数，无量纲；XQ为样品中石英质量分数百分比；XF为样品中长石质量分数百分比；XC为样品中方解石质量分数百分比；XD为样品中白云石质量分数百分比；XP为样品中黄铁矿质量分数百分比；所述步骤5中储层品质指数Qi的计算过程为：Qi＝Pi×0.5+Bi×0.52；上式2中，Qi为储层品质指数，无量纲；Pi为岩石孔隙发育指数，无量纲；Bi为岩石矿物脆性指数，无量纲；且储层品质指数的评价标准为大于75为好，大于等于50至小于75为较好，小于50为差；射孔位置选择储层品质好的水平段进行密集压裂，储层品质较好的水平段少压裂，在储层品质差的水平段不压裂。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国石油天然气股份有限公司吉林油田分公司 数岩科技股份有限公司 基于钻井岩石样品确定水平井压裂位置的方法