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申请/专利权人：致真精密仪器(青岛)有限公司
摘要：本发明公开了一种线形磁畴宽度测量方法、设备及存储介质，用以解决现有的磁畴宽度测量方式导致磁畴宽度测量不准的技术问题。方法包括：对磁畴图像中的线形磁畴进行边缘识别，并对识别出的磁畴边缘进行直线拟合，得到包含磁畴边缘直线的磁畴图像；获取测量直线与所述磁畴边缘直线的交点；基于选定的宽度测量模式，通过所述交点计算所述线形磁畴的磁畴宽度。本发明通过上述方法实现了线形磁畴宽度的自动测量，避免了人工操作，提高了磁畴宽度测量的准确性，且该方法不受样片尺寸限制。
主权项：1.一种线形磁畴宽度测量方法，其特征在于，所述方法包括：对磁畴图像中的线形磁畴进行边缘识别，并对识别出的磁畴边缘进行直线拟合，包括：计算所述磁畴边缘和拟合直线之间的拟合误差；若所述拟合误差大于等于预设误差阈值，则对所述磁畴边缘进行分段处理，并对划分出的每一段磁畴边缘分别进行直线拟合，直至所述每一段磁畴边缘与其对应的拟合直线之间的拟合误差小于所述预设误差阈值，得到包含磁畴边缘直线的磁畴图像；获取测量直线与所述磁畴边缘直线的交点；基于选定的宽度测量模式，通过所述交点计算所述线形磁畴的磁畴宽度，包括：若选定的宽度测量模式为第一宽度测量模式，则将任一线形磁畴的磁畴边缘直线的对应交点之间的距离，确定为所述任一线形磁畴的磁畴宽度；若选定的宽度测量模式为第二宽度测量模式，则根据任一线形磁畴的磁畴边缘直线之间的夹角角度与预设角度阈值之间的关系，计算所述任一线形磁畴的磁畴宽度，包括：若所述夹角角度小于预设角度阈值，则对所述任一线形磁畴的磁畴边缘直线进行平行处理，包括：通过所述磁畴边缘直线的斜率计算斜率均值，将所述磁畴边缘直线的斜率替换为所述斜率均值，将处理后的平行线之间的距离确定为所述任一线形磁畴的磁畴宽度；若所述夹角角度大于等于预设角度阈值，则将所述任一线形磁畴的任一磁畴边缘直线的对应交点到所述任一线形磁畴的另一磁畴边缘直线之间的距离，确定为所述任一线形磁畴的磁畴宽度。
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