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申请/专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要：本发明提供了一种紧凑型质子能谱测量装置，解决现有采用堆栈探测器对质子能谱探测，效率低且具有接触污染物风险的问题。该装置包括沿质子出射方向依次同轴设置的楔形滤片、闪烁体、成像镜头及探测器；楔形滤片的薄边厚度为0.2mm～2mm，厚边厚度为1.0mm～10mm；成像镜头采用物方远心系统；质子束入射楔形滤片，经楔形滤片能谱过滤后入射闪烁体，激发出可见光子并入射至成像镜头，成像镜头将可见光子的空间分布图像成像到探测器的像增强靶面上。楔形滤片不同厚度位置透过的质子能量不同，因而通过楔形滤片可以获得质子的连续能谱信息，实现质子能谱的高效测量。
主权项：1.一种紧凑型质子能谱测量装置，其特征在于：包括沿质子出射方向依次同轴设置的楔形滤片1、闪烁体2、成像镜头及探测器；所述楔形滤片1的薄边厚度为0.2mm～2mm，厚边厚度为1.0mm～10mm；所述成像镜头采用物方远心系统；质子束入射楔形滤片1，经楔形滤片1能谱过滤后入射闪烁体2，激发出可见光子并入射至所述成像镜头，成像镜头将可见光子的空间分布图像成像到所述探测器的像增强靶面12上。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种紧凑型质子能谱测量装置
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