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申请/专利权人：广东汕头超声电子股份有限公司

摘要：本发明涉及一种探轮静态测试调节装置及测试方法，用于探轮在静态指标测试之前的校准以及多项静态指标的测试：探轮进行校准时通过平移定位件与平移定位孔对应锁紧，使探轮固定支架的对称轴与测试轨道的对中线相重叠，再根据各个探头的回波情况，通过探轮调节装置调节探轮固定支架，从而调节探轮在一个水平高度上的倾斜状态，直至各个探头的回波情况符合测试要求；完成探轮的校准工作后，根据测试需要，通过各种平移和旋转的操作，对各个探头分别进行各项数据的测试。整个校准工作和测试过程的操作十分简单便捷，能够快速、准确、全面地对探轮的各项静态指标进行测试，提高探轮静态指标测试的测试效率、准确性和一致性。

主权项：1.一种探轮静态测试方法，其特征在于包括以下步骤：（1）探轮校准：（1-1）调节探轮静态测试调节装置的探轮固定支架，使左右平移座上的定位件处于探轮固定支架的对称轴的延长线上；其中，探轮静态测试调节装置包括机架、左右平移导轨、左右平移座、前后平移导轨、前后平移座、旋转导轨、旋转座、试块机构、探轮固定支架和探轮调节装置，左右平移导轨沿左右方向设置在机架上，左右平移座安装在左右平移导轨上并能够沿左右平移导轨移动，前后平移导轨沿前后方向设置在左右平移座上，前后平移座安装在前后平移导轨上并能够沿前后平移导轨移动，旋转导轨设置在前后平移座上，旋转座安装在旋转导轨上并能够沿旋转导轨移动，探轮固定支架通过探轮调节装置安装在旋转座上；旋转座和探轮固定支架均为左右方向上的轴对称结构，旋转座的对称轴与探轮固定支架的对称轴重叠，旋转座能够沿旋转导轨绕其中心点转动，前后平移座上沿旋转导轨的延伸方向设有多个旋转定位孔，旋转座上设有能够与各个旋转定位孔均相配合锁紧的旋转定位件；机架上沿左右平移导轨的延伸方向设有至少一个平移定位孔，平移定位孔处在相应的测试轨道的对中线上；左右平移座上设有能够与平移定位孔均相配合锁紧的平移定位件，平移定位件处在探轮固定支架的对称轴上；旋转座上设有支架微调机构，支架微调机构包括微调螺杆、微调连接块、微调导块、第一微调导轨和第二微调导轨，第一微调导轨和第二微调导轨沿左右方向设置在旋转座上，微调连接块安装在旋转座上，微调连接块上设有第二螺孔，微调螺杆的螺纹段与第二螺孔螺纹连接，微调导块安装在第二微调导轨上并可沿第二微调导轨移动，微调螺杆的末端段通过轴承与微调导块可转动连接，探轮调节支架安装在第一微调导轨上能够沿第一微调导轨左右移动，并且探轮调节支架与微调导块相连接；调节时，将旋转座上的旋转定位件插入0°刻度对应的旋转定位孔并锁紧，然后通过支架微调机构对调节支架进行细微调节，转动微调螺杆，在微调导块、第一微调导轨和第二微调导轨的导向下小幅度移动调节支架，使旋转座的对称轴与探轮固定支架的对称轴重叠，并且平移定位件与探轮固定支架的对称轴对齐；（1-2）将探轮安装至探轮固定支架上，使探轮的轮轴中轴线与探轮固定支架的对称轴重合；（1-3）移动左右平移座至与校准试块所在的测试轨道，将左右平移座上的平移定位件插入校准试块所在的测试轨道所对应的平移定位孔并锁紧，使探轮固定支架的对称轴与试块机构的校准试块所在的测试轨道的对中线相重叠；其中，试块机构包括校准试块、至少一条测试轨道、以及至少一块测试试块，每条测试轨道平行设置在机架上并且处于探轮固定支架的下方，测试轨道的长度方向与前后平移导轨的长度方向一致，校准试块和测试试块可拆卸的安装在相应的测试轨道上，每条测试轨道以及相应的校准试块或测试试块上沿其长度方向设有相重叠的对中线，测试轨道的前端设有自后向前朝下延伸的斜面；（1-4）移动前后平移座，使探轮随着前后平移座的移动逐渐与测试轨道前端的斜面接触，再贴合测试轨道的轨面向后移动，直至沿着测试轨道移动到校准试块上；（1-5）将探轮连接到相应的测器仪器上，读取各个探头的回波情况；（1-6）根据各个探头的实时回波情况，通过探轮调节装置实时调节探轮固定支架的倾斜度，从而调整各个探头的回波；其中，探轮调节装置包括探轮调节支架和三个螺杆调节机构，探轮调节支架安装在旋转座上，三个螺杆调节机构均安装在探轮调节支架上，其中一个螺杆调节机构设置在探轮固定支架的前侧，另外两个螺杆调节机构分别对称设置在探轮固定支架后侧的左右两侧；螺杆调节机构包括调节螺杆、调节支座和调节连接块，调节连接块固定安装在所述探轮调节支架上，调节支座安装在探轮固定支架上的相对应的位置，调节连接块上设有竖直的第一螺孔，调节螺杆与相应的第一螺孔螺纹连接并且调节螺杆的下端与调节支座可转动连接；（1-7）根据各个探头的实时回波情况，实时沿测试轨道前后移动探轮的位置，调节探轮在校准试块上的位置，从而调整各个探头的回波；（1-8）重复步骤（6）和步骤（7），直至各个探头的回波情况符合校准要求；（2）探轮静态指标测试：（2-1）移动左右平移座至需要测试的测试试块所在的测试轨道；（2-2）移动前后平移座，使探轮沿着测试轨道移动到所需的测试试块上；（2-3）根据各个探头的测试要求，实时调节探轮固定支架的倾斜度、探轮在测试试块上的前后相对位置或探轮在水平面内的旋转角度，调整各个探头的回波，以获得相应的测试数据；（2-4）重复步骤（2-1）至步骤（2-3），测试不同的静态指标。

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