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一种基于MgF2微腔光频梳的快速光谱分析系统 

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申请/专利权人:天津大学

摘要:本发明涉及一种基于MgF2微腔光频梳的快速光谱分析系统,用于物质分析、距离测量、环境监测等实验的输出光谱进行分析处理。所述的基于MgF2微腔光频梳的快速光谱分析系统包括MgF2微腔光频梳生成模块,测量模块和光谱分析与处理模块,其中MgF2微腔光频梳生成模块包括窄线宽激光器、光功率放大器、偏振控制器、环行器、MgF2微腔、光分束器和光谱仪,实现具有宽光谱、高重复频率的光频梳光源的输出;测量模块主要包括具体应用场景下的的被测物体,应用于物质分析、距离测量、环境监测等实验;光谱分析与处理模块,包括第一离轴抛物面镜、平面反射光栅、平面反射镜、第二离轴抛物面镜、InGaAs线阵探测器、数据处理电路和计算机;用于实现快速高效地光谱分析及信号处理。本发明是用MgF2微腔产生的高重频、宽光谱的光频梳作为光源进行包括但不限于物质分析、距离测量、环境监测等实验,测量速度快,解决难以集成、体积大等问题。通过对干涉光谱的等频率间隔采样,配合处理电路实现高速、实时的光谱分析与处理。

主权项:1.一种基于MgF2微腔光频梳的快速光谱分析系统,其特征在于,包括:MgF2微腔光频梳生成模块1,所述的MgF2微腔光频梳生成模块1用于产生具有宽光谱、高重复频率的光频梳光源,包括窄线宽激光器11、光功率放大器12、偏振控制器13、环行器14、MgF2微腔15、光分束器16和光谱仪17;测量模块2,所述的测量模块2用于进行实验,包括但不限于物质分析、距离测量、环境监测等实验,包括测量系统21;光谱分析与处理模块3,所述的光谱分析与处理模块3,包括第一离轴抛物面镜31、平面反射光栅32、平面反射镜33、第二离轴抛物面镜34、InGaAs线阵探测器35、数据处理电路36和计算机37;所述的窄线宽激光器11产生的单频激光依次经过光功率放大器12、偏振控制器13和环行器14,成为高功率、具有固定偏振态的单频激光,单频激光进入MgF2微腔15,激发MgF2微腔15内的热效应与非线性效应,继而产生四波混频效应,最终生成具有宽光谱、高重复频率的光频梳光源;所述的光分束器16将产生的光频梳分成两路,其中一路传输至测量模块2,用于进行实验,另一路连接至光谱仪17,监测MgF2微腔光频梳的状态;所述的测量系统21将光频梳作为光源进行相关实验,产生的光谱信号传入所述的光谱分析与处理模块3;所述的第一离轴抛物面镜31将输出光准直后,反射至平面反射光栅32使输出光按照不同频率分开,随后通过所述的平面反射镜33、第二离轴抛物面镜34将不同频率的光由所述的InGaAs线阵探测器35接收,把不同频率的光信号转换为电信号被所述的数据处理电路36处理,最后所述的计算机37将处理结果予以显示,可以实现高速的光谱分析与处理。

全文数据:

权利要求:

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