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一种外观缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 

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申请/专利权人:北京微链道爱科技有限公司

摘要:本申请提供了一种外观缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质,应用于图像处理技术领域,通过获取待检测图像信息,对待检测图像信息进行编码,得到待检测图像编码信息,同时,获取缺陷样本图像编码信息,将获取到的待检测图像编码信息与缺陷样本图像编码信息进行叠加,生成融合图像编码信息后,将其输入神经网络中进行编码的解析,即可得到缺陷在待检测图像信息中的位置信息。无需人工输入位置提示信息,对图像切割进行模型训练以及数据标注,即可便捷地得到缺陷在待检测图像信息中的位置信息,提高检测效率。

主权项:1.一种外观缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括步骤:获取待检测图像信息;对所述待检测图像信息进行编码得到待检测图像编码信息;获取缺陷样本图像编码信息;叠加所述待检测图像编码信息与所述缺陷样本图像编码信息,得到融合图像编码信息;对所述融合图像编码信息进行解码,得到所述待检测图像信息中的缺陷位置信息;所述对所述融合图像编码信息进行解码,得到所述待检测图像信息中的缺陷位置信息的步骤包括:获取融合图像编码信息中的缺陷样本图像特征信息;获取待检测图像编码信息中与缺陷样本图像特征信息匹配的缺陷图像编码信息,缺陷图像编码信息中包括缺陷图像编码信息在待检测图像编码信息中的位置信息;根据所述缺陷图像编码信息得到所述待检测图像信息中的缺陷位置信息。

全文数据:

权利要求:

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