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申请/专利权人：深圳市安保医疗感控科技股份有限公司

摘要：本发明公开了一种医疗用薄膜的透光性检测方法，通过检测单元对标准薄膜进行光学检测，获取基准成像数据；利用成像系统对样品薄膜进行成像扫描，获取样品成像数据；将样品成像数据与光学检测标准对比，判断是否达到标准，若不符合，则进行缺陷分析，利用原子力显微镜检测缺陷区域，获得微观结构数据，分析得出缺陷类型；再通过光谱仪照射不同波长至样品薄膜，获得不同波长下的透光率和偏光成像，分析样品对特定波长偏振处理效果；这种全新的透光性检测方法拥有更全面的检测流程，通过多种数据和分析方法综合评估薄膜的透光性能，进一步提升了检测的深度和准确性。

主权项：1.一种医疗用薄膜的透光性检测方法，其特征在于，包括：设置一个光学检测标准；通过成像系统对样品薄膜进行成像扫描，获取所述样品薄膜的样品成像数据；将所述样品成像数据与所述光学检测标准对比，判断是否达到这个标准；若是，则判断所述样品薄膜为合格；若否，则对所述样品成像数据进行缺陷分析，获得缺陷区域；通过原子力显微镜对所述样品薄膜的缺陷区域进行微观结构检测，获取所述微观结构数据，通过对所述微观结构数据进行分析，获得缺陷类型；通过光谱仪发射不同波长照射至所述样品薄膜，获得不同波长下的透光率与偏光成像，以分析获得所述样品薄膜对预设波长光的偏振处理效果；其中，对所述样品成像数据进行缺陷分析，获得缺陷区域，具体包括：对所述样品成像数据进行预处理，预处理包括：对比度、像素调整；应用图像处理算法对所述样品成像数据进行分析，识别所述样品成像数据中的表层异常区域，对比所述光学检测标准与所述样品成像数据，获取偏离正常范围的像素集合，所述像素集合表征了潜在的缺陷区域；综合所述表层异常区域和潜在的缺陷区域，获得全面的缺陷区域；设置所述样品成像数据的缺陷区域外的区域为健康区域；利用图像分割技术识别所述缺陷区域，分析样品成像数据中的色彩、纹理和形状特征，将所述缺陷区域与所述健康区域进行分离；对每个识别出的缺陷区域进行分类，根据缺陷的大小、形状、边界特征及其在成像数据中的分布模式，将缺陷分为不同的类别，包括划痕、气泡和杂质；设定样品薄膜的基准点，通过每个缺陷区域相对于所述基准点的位置，获得所述样品薄膜每个缺陷区域的缺陷位置；所述成像系统、所述原子力显微镜和所述光谱仪分别安装于切换模块上，所述切换模块包括环形安装板和驱动件，所述驱动件用于驱动所述环形安装板转动，所述成像系统、所述原子力显微镜和所述光谱仪依次沿着所述环形安装板的周向方向排布；所述切换模块安装于调整模块上，所述调整模块用于驱动所述成像系统、所述原子力显微镜和所述光谱仪做预设方向移动，以调节相对于样品台的距离；其中，通过原子力显微镜对所述样品薄膜的缺陷区域进行微观结构检测，获取所述微观结构数据，通过对所述微观结构数据进行分析，获得缺陷类型，具体包括：所述切换模块运行，以驱动所述原子力显微镜对准于所述样品薄膜，对所述原子力显微镜进行调焦；根据样品薄膜的尺寸规格，设置原子力显微镜的扫描参数，所述扫描参数包括扫描范围、速度和分辨率；根据每个缺陷区域的缺陷位置，驱动所述原子力显微镜的取像端移动，使所述原子力显微镜的扫描的中心位置依次经过每个所述缺陷区域；启动原子力显微镜对所述样品薄膜进行微观结构检测，对预设成像范围内的样品表面进行逐点探测获得微观结构数据，记录下微观结构的三维数据；利用图像处理单元对所述微观结构数据进行分辨率调整，生成所述缺陷区域的高分辨率三维图像，对所述高分辨率三维图像进行分析，结合微观结构的三维数据，识别缺陷类型的第一识别结果，所述缺陷类型包括裂纹、孔洞和凹陷。

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