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申请/专利权人：华中科技大学
摘要：本发明属于超导技术领域，公开了一种高温超导磁体交流损耗评估方法、装置、电子设备及介质，包括计算高温超导磁体在不同充放电电流变化幅值下的交流损耗，并拟合后得到对应的交流损耗曲线；基于临界态模型，沿高温超导磁体超导带材宽度方向将超导带材离散为N个微元，从初始时刻开始，针对每个充电或放电过程，对每个微元按编号从小到大遍历，记录每次电流密度发生变化后各微元的电流密度，以得到此时的带材电流，当带材电流达到目标带材电流停止对微元遍历，由此得到待评估时间段电流密度发生变化的微元编号，基于拟合的曲线计算变化微元的充放电损耗，以得到待评估的损耗。本发明能实现在任意电流波形下损耗的实时评估，并提升评估的准确度。
主权项：1.一种高温超导磁体交流损耗评估方法，其特征在于，包括：在高温超导磁体通入梯形波电流下，采用有限元仿真，得到高温超导磁体在不同充电和放电电流变化幅值下的交流损耗值，并拟合后得到对应的交流损耗曲线，g取c或d，对应表示充电或放电；在低磁场条件下，基于临界态模型，沿高温超导磁体超导带材宽度方向，将超导带材离散为N个微元，并沿超导带材外侧至内侧将所述微元依次编号为1至N；迭代步骤：基于通入的任意电流波形，从高温超导磁体初始充电时刻开始，针对每个充电或放电过程，对每个微元按照编号从小到大依次遍历，记录每次电流密度发生正负变化后各微元的电流密度，以得到此时的带材电流，直至所述带材电流达到目标时刻的带材电流，停止对微元的遍历；所述目标时刻为所述充电或放电过程中的任一时刻；将待评估时间段的开始时刻和结束时刻分别作为所述目标时刻，并基于开始时刻和结束时刻的带材电流，采用所述迭代步骤，分别得到开始时刻和结束时刻各微元的电流密度，并进行逐一比较后得到待评估时间段内电流密度发生正负变化的微元编号；计算每个电流密度发生正负变化的微元的充电或放电损耗：；其中，i为所述电流密度发生正负变化的微元编号，，为高温超导磁体能通入的最大工作电流；将所述充电或放电损耗累加后，得到高温超导磁体在所述待评估时间段内对应的充电损耗或放电损耗。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 华中科技大学 高温超导磁体交流损耗评估方法、装置、电子设备及介质
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