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申请/专利权人：华院计算技术(上海)股份有限公司
摘要：本发明提供一种基于缺陷描述的缺陷分类方法及系统，其中方法包括以下步骤：获得缺陷图像和对应的缺陷描述文本；将所述缺陷图像送入视觉编码器中进行编码，得到视觉特征；将所述缺陷描述文本送入语义编码器中进行编码，得到语义特征；将所述视觉特征送入多层感知机，经过激活函数，得到在每个候选标签上的概率预测p1，计算损失L1；将所述视觉特征和所述语义特征进行融合后，经过激活函数，得到在每个候选标签上的概率预测p2，计算损失L2；对所述损失L1和所述损失L2进行融合，得到最终损失；对所述概率预测p1和所述概率预测p2进行融合，取融合后最大概率值所属标签为缺陷预测结果。本发明能够更加准确地界定不同类别之间的区别，提高分类的准确率。
主权项：1.一种基于缺陷描述的缺陷分类方法，其特征在于，包括以下步骤：获得缺陷图像和对应的缺陷描述文本；将所述缺陷图像送入视觉编码器中进行编码，得到视觉特征；将所述缺陷描述文本送入语义编码器中进行编码，得到语义特征；将所述视觉特征送入多层感知机，经过激活函数，得到在每个候选标签上的概率预测p1，计算损失L1；将所述视觉特征和所述语义特征进行融合后，经过激活函数，得到在每个候选标签上的概率预测p2，计算损失L2；对所述损失L1和所述损失L2进行融合，得到最终损失；对所述概率预测p1和所述概率预测p2进行融合，取融合后最大概率值所属标签为缺陷预测结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 华院计算技术(上海)股份有限公司 一种基于缺陷描述的缺陷分类方法及系统
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