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申请/专利权人：东北石油大学;重庆科技学院

摘要：本发明涉及一种用于分析多期生长演化正断层活动空间差异性的方法，首先获取需要分析的目标正断层的几何学特征和平面展布，绘制目标正断层平面图，其次在正断层平面图上定义目标正断层的一端为起始端，自起始端开始沿着断层走向等间隔设置采样剖面线；在采样剖面线对应的地震剖面中，提取各个地层在目标正断层上升盘和目标正断层下降盘的埋深，之后综合断距‑距离曲线T‑X得到目标正断层分段特征、断距‑埋深T‑Z曲线确定的断层活动时期、生长指数EI剖面反映的不同时期不同部位断层活动强度的差异等手段，突破传统二维单剖面分析的局限性，从三维空间角度分析断层的生长演化规律，建立断层空间生长发育模式。

主权项：1.一种用于分析多期生长演化正断层活动空间差异性的方法，其特征在于：包括如下步骤：S1：获取需要分析的目标正断层的几何学特征，该几何学特征包括断层的走向、倾向、倾角、延伸长度和最大断距；获取地震解释资料中目标正断层的平面展布，绘制目标正断层平面图；S2：在S1目标正断层平面图上，定义目标正断层的一端为起始端，自起始端开始沿着断层走向等间隔设置采样剖面线，采样剖面线总数为M，采样剖面线的走向与断层走向正交；每个采样剖面线对应一个三维地震工区里的一个地震剖面，在采样剖面线对应的地震剖面中，提取各个地层在目标正断层上升盘和目标正断层下降盘的埋深，并利用公式1计算各条采样剖面线中目标正断层在各个地层的垂直断距；公式1表达式如下：Tmn＝Dxn-Dsn1；公式1中，Tmn为第m条采样剖面线对应地震剖面中第n个地层的垂直断距，m＝1,2,3…M；n＝1,2,3…N，单位为m；Dxn为目标正断层下降盘在第n个地层的埋深，n＝1,2,3…N，单位为m；Dsn为目标正断层上升盘在第n个地层的埋深，n＝1,2,3…N，单位为m；在直角坐标系中，建立各采样剖面线上Tmn变化的曲线T-X，曲线T-X以采样剖面线到起始端的距离为横坐标，以采样剖面线对应地震剖面中地层的垂直断距为纵坐标；S3：通过识别曲线T-X中垂直断距极小值点和垂直断距极大值点，分析目标正断层的分段生长点和成核点分布；S4：在直角坐标系中，以Tmn为横坐标，以Dxn为纵坐标，建立目标正断层下降盘各地层埋深与各地层垂直断距关系的折线统计图，该折线统计图为目标正断层在第m个采样剖面上的断距-埋深曲线T-Z；相同方法编制所有采样剖面上的断距-埋深曲线T-Z，并按照自起始端为零点向远离起始端从小到大依次排列，即可得到一组沿目标正断层走向排列的断距-埋深曲线T-Z组；断距-埋深曲线T-Z反映了各地层垂直断距随埋深大小变化的关系，曲线T-Z的斜率代表目标正断层断距梯度，反映了垂直断距随深度变化的程度，规定埋深由浅向深，曲线T-Z上各地层垂直断距值逐渐增加为正向断距梯度；埋深由浅向深，曲线T-Z上各地层垂直断距值逐渐减小为负向断距梯度；埋深由浅向深，曲线T-Z上各地层垂直断距值恒定，为零断距梯度；正向断距梯度代表目标正断层在该地层对应的地质历史时期是活动的；负向断距梯度代表目标正断层向下传播，在该地层对应的地质历史时期没活动，只是后期活动的断层向下传播造成这该地层出现错断；S5:根据S2得到的Dsn和Dxn，利用公式2和公式3计算各采样剖面中各套地层在目标正断层上升盘和目标正断层下降盘的地层厚度；公式2和3表达式如下：Hsn＝Dsn-Dsn-12；Hxn＝Dxn-Dxn-13；公式2和公式3中，Hsn为第n个地层在目标正断层上升盘的厚度，单位为m；Hxn为第n个地层在目标正断层下降盘的厚度，单位为m；Dxn为目标正断层下降盘在第n个地层的埋深，单位为m；Dxn-1为目标正断层下降盘在第n-1个地层的埋深，单位为m；Dsn为目标正断层上升盘在第n个地层的埋深，单位为m；Dsn-1为目标正断层上升盘在第n-1个地层的埋深，单位为m，n＝1,2,3…N；根据公式2和公式3得到的各采样剖面中各套地层在目标正断层上升盘和目标正断层下降盘的地层厚度，利用公式4计算各采样剖面上目标正断层的生长指数，公式4的表达式如下：EImn＝HsnHxn4；公式4中，EImn为第m条采样剖面线对应地震剖面中第n个地层的生长指数，无量纲；Hsn为第n个地层在目标正断层上升盘的厚度，单位m；Hxn为第n个地层在目标正断层下降盘的厚度，单位m，m＝1,2,3…M；n＝1,2,3…N；在直角坐标系中，以生长指数EImn为横坐标，以地层名为纵坐标，建立生长指数EImn的柱状统计图，该柱状统计图即为目标正断层在第m条采样剖面上的生长指数图；其中生长指数EI小于等于1时，表示目标正断层没有发生同沉积活动，当生长指数EI大于1时，表示目标正断层发生同沉积活动，并且生长指数越大，同沉积活动强度越强；相同方法计算所有采样剖面线对应的生长指数图，并按照S2采样剖面线顺序依次排列，即可得到一组沿断层走向排列的生长指数剖面图：对于目标正断层同一部位，生长指数EI大于1且越大，代表该地层沉积时期断层活动性越强，反之活动性越弱；对于同一断层活动时期，目标正断层不同部位之间生长指数EI的大小，越接近断层中心，EI值越大，越接近断层端部，EI值越小直至断层端部EI＝1。

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