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申请/专利权人：无锡众星微系统技术有限公司
摘要：一种用于芯片系统测试的自动化框架设计方法和系统，该方法包括：根据芯片测试目标在测试用例层开发测试用例，根据不同测试阶段和测试业务场景，在测试框架中添加环境参数，在框架层对测试用例的执行流程进行统一管理；对测试用例实现进行统一管理；在业务层封装不同的测试业务场景，并为测试用例层提供统一的业务调用执行接口，通过业务层调用接口层中的统一业务接口封装方法实现业务信息交互；通过框架层中的环境参数判断测试阶段，当测试阶段为原型阶段时，通过统一业务接口调用通信层的串口命令，当测试阶段为硅后阶段时，通过统一业务接口调用通信层的软件接口命令。本发明实现了不同系统测试阶段在自动化框架中的融合。
主权项：1.一种用于芯片系统测试的自动化框架设计方法，其特征在于，包括：根据芯片测试目标在测试用例层开发测试用例，根据不同测试阶段和测试业务场景，在框架层中添加环境参数，并对所述测试用例的执行流程进行统一管理；在业务层封装不同的测试业务场景，通过所述业务层调用接口层中的统一业务接口；通过框架层中的环境参数判断所述测试阶段，当所述测试阶段为原型阶段时，通过所述统一业务接口调用通信层的串口命令，当所述测试阶段为硅后阶段时，通过所述统一业务接口调用所述通信层的软件接口命令，包括通信层实现原型阶段在FPGA环境上通过串口命令下发执行的传输方法，以及在硅后阶段通过软件在HOST上下发命令的传输方法，通过统一的接口暴露给接口层进行调用。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 无锡众星微系统技术有限公司 一种用于芯片系统测试的自动化框架设计方法和系统
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