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三维存储器件和方法 

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申请/专利权人:台湾积体电路制造股份有限公司

摘要:在实施例中,一种器件包括:具有第一侧壁的第一介电层;具有第二侧壁的第二介电层;位于第一介电层和第二介电层之间的字线,该字线具有外侧壁和内侧壁,内侧壁被从外侧壁、第一侧壁和第二侧壁开槽;沿着字线的外侧壁、字线的内侧壁、第一介电层的第一侧壁和第二介电层的第二侧壁延伸的存储器层;以及沿着存储器层延伸的半导体层。本申请提供了三维存储器件和方法。

主权项:1.一种存储器件,包括:第一介电层,具有第一侧壁;第二介电层,具有第二侧壁;字线,位于所述第一介电层和所述第二介电层之间,所述字线具有外侧壁和内侧壁,所述内侧壁被从所述外侧壁、所述第一侧壁和所述第二侧壁开槽;存储器层,沿着所述字线的外侧壁、所述字线的内侧壁、所述第一介电层的第一侧壁和所述第二介电层的第二侧壁延伸;以及半导体层,沿着所述存储器层延伸;位线,接触所述半导体层的侧壁和所述存储器层的侧壁;源极线,接触所述半导体层的侧壁和所述存储器层的侧壁;以及隔离区域,位于所述源极线和所述位线之间,所述隔离区域接触所述半导体层的侧壁和所述存储器层的侧壁。

全文数据:

权利要求:

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