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申请/专利权人：合肥智芯半导体有限公司
摘要：本发明涉及芯片测试技术领域，提供一种芯片的测试向量生成方法、系统、设备及存储介质，通过待执行的测试代码生成hex文件，并根据目标测试需求以及hex文件配置目标测试文件，简化了传统测试过程中繁琐的配置步骤，且通过配置目标测试文件，可以方便地适应不同测试需求和芯片类型。将目标测试文件输入到编译软件中，可以快速生成目标测试向量，实现了不通过仿真也可以生成测试向量的效果，大大缩短了测试准备和生成测试向量的时间，提高了整体测试效率。同时，配置目标测试文件的过程只比较关心的输出值，避免了不关心的比较值对测试结果的干扰，从而降低了测试失败的风险，提高了测试的准确性。
主权项：1.一种芯片的测试向量生成方法，其特征在于，包括：根据待执行的测试代码生成hex文件；其中，所述待执行的测试代码是根据目标测试需求编译的；根据所述目标测试需求以及所述hex文件配置目标测试文件，并将所述目标测试文件输入到编译软件中；所述编译软件从所述目标测试文件中读取待测芯片进入目标测试模式所需启动端口标识以及启动端口值，将所述启动端口标识以及所述启动端口值写入第一向量序列；所述编译软件从所述目标测试文件中读取所述hex文件中的hex文件路径，根据所述hex文件路径读取加载测试数据到所述待测芯片所需的加载端口标识以及测试数据，并将所述加载端口标识以及所述测试数据写入第二向量序列；其中，所述加载端口标识用于指示将所述测试数据加载到所述待测芯片的目标加载端口；所述编译软件读取所述待测芯片释放CPU所需的端口操作序列，将所述端口操作序列写入第三向量序列；所述编译软件从所述目标测试文件中读取测试所述待测芯片所需的向量观测值，并将所述向量观测值写入第四向量序列；其中，所述向量观测值用于测试所述待测芯片；所述编译软件根据所述第一向量序列、所述第二向量序列、所述第三向量序列以及所述第四向量序列得到测试向量文件。
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权利要求：
百度查询： 合肥智芯半导体有限公司 芯片的测试向量生成方法、系统、设备及存储介质
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