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申请/专利权人：上海兆芯集成电路股份有限公司
摘要：本发明提供一种扫描链控制电路，包括：通过测试电路板上的接口进行芯片测试而不需要通过引线端外接引线进行测试，当上述扫描链控制电路在管脚移位时钟的作用下时，该扫描链控制电路将管脚输入数据输入至扫描链测试电路并在进行测试后将测试完成的测试数据输出；当上述扫描链控制电路在寄存器移位时钟信号的作用下时，该扫描链控制电路将寄存器输入数据输入至扫描链测试电路进行测试后将测试完成的测试数据输出。本发明能够实现扫描链测试电路的测试数据输入输出控制，提高测试灵活性之外，亦可在测试管脚不易外露或接触不良时仍得以测试芯片是否能正确运作。
主权项：1.一种扫描链控制电路，其特征在于，包括：寄存器控制器，其包含寄存器时钟控制模块及寄存器模式控制模块，上述寄存器时钟控制模块输出寄存器移位时钟信号，上述寄存器模式控制模块输出使能时钟信号；模式控制器，其耦接至上述寄存器控制器，接收上述使能时钟信号，并输出模式扫描使能时钟信号；时钟控制器，其耦接至上述寄存器控制器及上述模式控制器，接收上述寄存器移位时钟信号、上述使能时钟信号以及上述模式扫描使能时钟信号，并输出移位时钟信号；以及数据选择器，其耦接至扫描链测试电路及上述寄存器控制器，上述扫描链测试电路的输入管脚分别耦接至上述数据选择器的多个输入端，并经由上述数据选择器传送测试数据至上述扫描链测试电路，其中，上述扫描链测试电路的输入管脚统一耦接至上述扫描链控制电路，上述扫描链测试电路的输出管脚统一耦接至上述扫描链控制电路；通过测试电路板上的接口进行芯片测试而不需要通过扫描链测试电路的引线端外接引线进行测试，当上述扫描链控制电路在管脚移位时钟的作用下时，该扫描链控制电路将管脚输入数据输入至扫描链测试电路并在进行测试后将测试完成的测试数据统一传送至上述扫描链控制电路并经由上述测试电路板上的接口输出；当上述扫描链控制电路在寄存器移位时钟信号的作用下时，该扫描链控制电路将寄存器输入数据输入至扫描链测试电路并在进行测试后将测试完成的测试数据统一传送至上述扫描链控制电路并经由上述测试电路板上的接口输出。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海兆芯集成电路股份有限公司 扫描链控制电路
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