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申请/专利权人：山东华翼微电子技术股份有限公司

摘要：本发明涉及信息安全和数据采集技术领域，具体是一种连续采集、分析随机数芯片质量的系统。系统包括被测芯片和测试装置，被测芯片位于高低温箱内，测试装置位于高低温箱外，测试装置与被测芯片通过带屏蔽排线相连，设有供电源为被测芯片提供不同大小的测试电压；测试装置包括采集单元、控制单元、分析单元、存储单元和自测单元，存储单元包括DDR和SD卡，采集单元包括采集模块、分段式FIFO和寄存器，多个采集模块均与分段式FIFO相连，分段式FIFO与寄存器均与控制单元相连，控制单元采用双核非对称架构。本发明可靠、连续地采集、存储并分析多颗随机数芯片产生的随机数据，还能动态调整采样参数以应对不同测试需求。

主权项：1.一种连续采集、分析随机数芯片质量的系统，其特征在于：包括被测芯片和测试装置，被测芯片位于高低温箱内，测试装置位于高低温箱外，测试装置与被测芯片通过带屏蔽排线相连，设有供电源为被测芯片提供不同大小的测试电压；测试装置包括采集单元、控制单元、分析单元、存储单元和自测单元，存储单元包括DDR和SD卡，采集单元包括采集模块、分段式FIFO和寄存器，采集模块的数量有多个，每个采集模块连接一个被测芯片，用于采集被测芯片产生的随机数，多个采集模块均与分段式FIFO相连，用于将采集的随机数传输至分段式FIFO，分段式FIFO与寄存器均与控制单元相连；控制单元采用双核非对称架构，包括CPU0、CPU1和片内SRAM，CPU0是主控制单元，CPU0与分段式FIFO、寄存器相连，用于对多路随机数输入进行实时采集和缓存，并设定采集参数、管理采集模块；CPU1是辅控制单元，CPU1与SD卡相连，用于将采集的随机数存储到SD卡中；CPU0和CPU1共用片内SRAM和DDR，DDR分为多个缓冲区，多个缓冲区构成环形缓冲池，片内SRAM存储环形缓冲池的状态，由CPU0向环形缓冲池写入数据，CPU1从环形缓冲池读取数据；分析单元对SD卡内的随机数进行分析，从而筛选和验证随机数芯片的熵源质量；自测单元包括分别与CPU0、采集单元相连的伪随机数发生器，伪随机数发生器具有与被测芯片一致的通讯速率和接口时序，伪随机数发生器用于在目标测试条件下产生激励信号并进行CRC校验，验证测试装置的测试环境、传输连接以及SD卡的功能有效性。

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