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一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置 

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申请/专利权人:幂指科技(北京)有限公司

摘要:本实用新型涉及芯片测试技术领域,公开了一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置,包括料板和测试机以及电源测试仪,料板的内部开设有合格品出料道,合格品出料道的一侧开设有待出料道,待出料道的一端开设有测试道,待出料道的一端开设有下料道,料板的内部且位于待出料道与测试道之间安装有电动伸缩板,电源测试仪安装于测试机的底部,料板的内部滑动连接有推料板,推料板用于推动芯片移动,料板的顶部设置有驱动推料板移动的驱动组件。通过设置有驱动组件可便于驱动待出料道内的芯片移动从而为下一次的测试完成的芯片留出空间,同时可为测试完成的芯片进行输送,进而提高其效率。

主权项:1.一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置,包括料板100和测试机201以及电源测试仪202,其特征在于:所述料板100的内部开设有合格品出料道101,所述合格品出料道101的一侧开设有待出料道104,所述待出料道104的一端开设有测试道103,所述待出料道104的一端开设有下料道105,所述测试道103的一侧开设有不合格品出料道102,所述测试道103的内部安装有第一档位光感器106,所述测试道103的内部且位于第一档位光感器106的一端安装有第二档位光感器107,所述料板100的内部且位于待出料道104与测试道103之间安装有电动伸缩板108,所述电源测试仪202安装于测试机201的底部,所述料板100的内部滑动连接有推料板402,所述推料板402用于推动芯片移动,所述料板100的顶部设置有驱动推料板402移动的驱动组件。

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