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申请/专利权人：深圳技术大学
摘要：本申请提供一种测试系统，包括封装体、流量控制器、流量计以及上位机，封装体具有通道和接口，通道用于容置传感芯片组件且具有进口和出口，进口用于供流体流入封装体，出口用于供流体流出封装体，接口用于供电源接入传感芯片组件以及用于传感芯片组件的信号输出，流量控制器接入进口以用于控制流体的流入流量，流量计接入出口以用于读取流体的流出流量，上位机连接于流量控制器和流量计之间，上位机用于读取传感芯片组件的输出信号、读取流量计的数据以及输出一驱动信号至流量控制器驱动，流量控制器根据驱动信号来控制流入流量的输入。本申请提供的测试系统有利于快速便捷地完成芯片的性能测试，从而有利于降低测试成本。
主权项：1.一种测试系统，其特征在于，包括：封装体，具有通道和接口，所述通道用于容置传感芯片组件，所述通道具有进口和出口，所述进口用于供流体流入所述封装体，所述出口用于供所述流体流出所述封装体，所述接口用于供电源接入所述传感芯片组件，所述接口还用于所述传感芯片组件的信号输出；流量控制器，接入所述进口以用于控制所述流体的流入流量；流量计，接入所述出口以用于读取所述流体的流出流量；以及上位机，连接于所述流量控制器和所述流量计之间，所述上位机用于读取所述传感芯片组件的输出信号、读取所述流量计的数据以及输出一驱动信号至所述流量控制器驱动，所述流量控制器根据所述驱动信号来控制所述流入流量的输入。
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