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申请/专利权人：北京当升材料科技股份有限公司
摘要：本申请提出了检测材料表面包覆物厚度的方法，所述包覆物包括第一主元素，所述基体包括第二主元素，所述方法包括：1调节能谱仪的电压和电流，使能谱仪的谱图中出现第一主元素及第二主元素的特征峰；2采用扫描电子显微镜确定材料的测试区域，通过能谱仪分别收集n个颗粒上的测试区域内的第一主元素的特征峰的积分面积，其中，n≥50颗；3单个颗粒的包覆物的厚度＝单个颗粒的所述第一主元素的特征峰的积分面积包覆物的标准品的特征峰积分面积×标准品的采集厚度；4包覆物的平均厚度＝n个颗粒的包覆物的厚度之和n。由此，本方法可获得材料表面包覆物整体的平均厚度，测试方法简单，无需对材料进行特殊处理，测试周期短。
主权项：1.一种检测材料表面包覆物厚度的方法，其特征在于，所述材料包括基体和包覆物，所述包覆物包括第一主元素，所述基体包括第二主元素，所述方法包括：1调节能谱仪的电压和电流，使所述能谱仪谱图中出现所述第一主元素及所述第二主元素的特征峰；2采用扫描电子显微镜确定所述材料的测试区域，通过所述能谱仪分别收集n个颗粒上的所述测试区域内的所述第一主元素的特征峰的积分面积，其中，n≥50颗；3单个所述颗粒的包覆物的厚度＝单个所述颗粒的所述第一主元素的特征峰的积分面积所述包覆物的标准品的特征峰积分面积×所述标准品的采集厚度；4所述包覆物的平均厚度＝n个所述颗粒的包覆物的厚度之和。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京当升材料科技股份有限公司 检测材料表面包覆物厚度的方法
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