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大型环件非均匀晶粒尺寸及分布超声相控阵无损评价方法 

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申请/专利权人:武汉理工大学

摘要:本发明公开了一种大型环件非均匀晶粒尺寸及分布超声相控阵无损评价方法,包括以下步骤:根据大型环件的材料和几何尺寸设置超声相控阵换能器参数;在待测大型环件的各个截面根据超声相控阵单次扫查覆盖面积划分为多个网格;采用超声相控阵的探头电子聚焦扫描依次完成所有网格检测,分别计算各网格区域的衰减系数、能量谱以及主频率特征值,带入预先构建的数学计算模型中计算待测大型环件截面各网格区域的晶粒尺寸,得到该待测大型环件的晶粒尺寸分布;将该待测大型环件的晶粒尺寸分布与预先绘制的大型环件截面非均匀晶粒尺寸分布进行比对评价。本发明提高了大型环件晶粒尺寸测量的分辨率和精度。

主权项:1.一种大型环件非均匀晶粒尺寸及分布超声相控阵无损评价方法,其特征在于,包括以下步骤:根据大型环件的材料和几何尺寸设置超声相控阵换能器参数;在待测大型环件的各个截面根据超声相控阵单次扫查覆盖面积划分为多个网格;采用超声相控阵的探头电子聚焦扫描依次完成所有网格检测,采集发射孔径在各网格聚焦的合成信号;利用预设的底波衰减校准系数对各孔径合成信号的底面回波幅值信号进行校准,然后分别计算各合成信号的总衰减系数;根据各总衰减系数计算各网格区域独立的衰减系数;根据各孔径合成信号在相应聚焦网格区域的背散射信号得到各网格区域的能量谱以及主频率特征值;将各网格区域的衰减系数、能量谱以及主频率特征值带入预先构建的各网格区域晶粒尺寸超声相控阵的数学计算模型中计算待测大型环件截面各网格区域的晶粒尺寸,得到该待测大型环件的晶粒尺寸分布;其中该数学计算模型为预先构建的关于大型环件的各个截面各区域非均匀晶粒尺寸、衰减系数、能量谱以及主频率特征值之间关系模型;根据预先设定的评级标准对该待测大型环件的晶粒尺寸分布进行相应评价。

全文数据:

权利要求:

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