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质子束流的测量装置及系统 

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申请/专利权人:中国原子能科学研究院

摘要:本公开提供了一种质子束流的测量装置及系统,其中该装置包括壳体结构和测量结构,壳体结构具有真空容置空间;测量结构套设于壳体结构的真空容置空间中,用于质子束流的测量;其中,测量结构包括阵列件,阵列件具有均匀分布设置的多个法拉第筒,用于实现质子束流的注量率和均匀性的测量。因此,本公开通过将包括多个法拉第筒的阵列件集成到真空容置壳体结构中,使得测量装置能够适应大气环境下的测量;此外,借助于多个法拉第筒的阵列集成,还可以同时实现对高注量率的质子束流的注量率和均匀性的快速测量,具有更高的测量准确性,提高了测量效率,实现了在操作简便、注量率和均匀性测量等方面的有效兼顾。

主权项:1.一种质子束流的测量装置,其特征在于,包括:壳体结构,具有真空容置空间;测量结构,套设于所述壳体结构的真空容置空间中,用于质子束流的测量;其中,所述测量结构包括:阵列件,具有均匀分布设置的多个法拉第筒,用于实现质子束流的注量率和均匀性的测量;所述阵列件还包括:支撑板,垂直于所述质子束流的入射方向、并设置于所述壳体结构的真空容置空间中,用于作为所述多个法拉第筒的支撑结构;高压板,沿所述质子束流的入射路径设置于所述阵列件的所述多个法拉第筒的前方,用于在被施加高压时防止电子从所述多个法拉第筒中逸出;所述高压板与所述多个法拉第筒中每个法拉第筒之间具有间隙,使所述高压板与所述多个法拉第筒之间绝缘;所述高压板包括:多个光阑孔,所述多个光阑孔的每个光阑孔贯穿所述高压板并与所述多个法拉第筒中每个法拉第筒对应,用于使得入射的质子束流保持准直特性;所述测量结构还包括:多个前支柱,所述多个前支柱均匀分布设置于所述高压板和所述支撑板之间,用于对所述高压板进行支撑,使得所述高压板与所述阵列件之间绝缘;所述多个前支柱的每个前支柱的一端穿设于所述支撑板上,另一端抵接于所述高压板上;多个设置孔,均匀分布设置于所述支撑板上,所述多个设置孔的每个设置孔贯穿所述支撑板,用于一一对应设置所述多个法拉第筒,以形成所述阵列件;多个后支柱,所述多个后支柱均匀分布设置于后面板和所述支撑板之间,用于对所述支撑板进行支撑;所述壳体结构包括:筒体,为沿所述质子束流入射路径设置的筒柱状结构,用于套设所述测量结构;前面板,与所述筒体的一端的边缘固定设置,用于形成所述壳体结构的迎束面;所述前面板包括:多个准直孔,所述多个准直孔的每个准直孔贯穿所述前面板并与所述多个法拉第筒中每个法拉第筒对应,用于使得入射的质子束流具有准直特性;后面板,与所述筒体的另一端的边缘固定设置,用于形成所述壳体结构的背束面;所述后面板沿所述质子束流的入射路径设置于所述阵列件的所述多个法拉第筒的后方,用于为所述测量结构提供支撑。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国原子能科学研究院 质子束流的测量装置及系统

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