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具有过压缓冲性能的双头双动半导体测试探针组 

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申请/专利权人:渭南木王智能科技股份有限公司

摘要:本实用新型公开了一种具有过压缓冲性能的双头双动半导体测试探针组,包括针套,所述针套的两端分别可伸缩地设置有一端开口的针管,一个针管内均可伸缩地设置有第一弹簧和测试针头,另一个针管内可伸缩地设置有第一弹簧和输出针头,针套内设置有第二弹簧,第二弹簧布置在两个针管之间。该具有过压缓冲性能的双头双动半导体测试探针组,解决了现有半导体测试探针使用时,由于待测产品以及半导体测试探针输出针头外露部分尺寸插值较大,造成待测产品某些待测点位在测试过程造成过压,由于过压会导致某些待测点位被压伤等情况,因此造成不能在精密测试环境下使用的问题。

主权项:1.一种具有过压缓冲性能的双头双动半导体测试探针组,其特征在于,包括针套6,所述针套6的两端分别可伸缩地设置有一端开口的针管1,一个针管1内均可伸缩地设置有第一弹簧2和测试针头3,另一个针管1内可伸缩地设置有第一弹簧2和输出针头4,针套6内设置有第二弹簧5,第二弹簧5布置在两个针管1之间。

全文数据:

权利要求:

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