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申请/专利权人：西安工程大学
摘要：本实用新型公开了红外探测器批量质检系统，包括底面台座，底面台座上设有光轴，光轴包括光轴a和光轴b；光轴a上套接有检测盘，光轴a旋转带动检测盘旋转，检测盘上呈圆形阵列布置有若干红外探测器，红外探测器的针脚连接有嵌入检测盘的电路转换板；光轴b上套接有托架，托架包括沿着轴线自上往下依次布置的托架a、托架b和托架c；托架a连接有光源，托架b连接有气体腔体，光源、气体腔体和处于检测状态的红外探测器同轴设置，托架c连接有放大电路板，放大电路板与红外探测器的针脚接触。通过上述结构的设置实现了批量质检，解决了现有技术中操作员在红外探测器质检时效率较低和劳动强度大的技术问题。
主权项：1.红外探测器批量质检系统，其特征在于，包括底面台座6，底面台座6上设有光轴1，光轴1包括光轴a和光轴b；光轴a上套接有检测盘2，光轴a旋转带动检测盘2旋转，检测盘2上呈圆形阵列布置有若干红外探测器15，红外探测器15的针脚连接有嵌入检测盘2的电路转换板3；光轴b上套接有托架11，托架11包括沿着轴线自上往下依次布置的托架a、托架b和托架c；托架a连接有光源13，托架b连接有气体腔体14，光源13、气体腔体14和处于检测状态的红外探测器15同轴设置，托架c连接有放大电路板8，放大电路板8与红外探测器15的针脚接触。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西安工程大学 红外探测器批量质检系统
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