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申请/专利权人:国民技术股份有限公司
摘要:本申请公开了一种带隙基准电路的校准方法、装置、存储介质和电子设备,该方法为:获得多个测试温度的测试次序;确定目标电路在第一温度下的第一测试结果;根据第一测试结果,从多个测试参数中,获得第一集合;确定目标电路在第二温度下的第二测试结果;根据第二测试结果,从第一集合所示各个测试参数中,获得第二集合;基于第二集合中校准精度最高的测试参数,确定为目标电路的校准参数。该方法基于第一测试结果,确定第一集合,以减少第二温度所参与的测试参数的数量,基于第二测试结果,确定第二集合,以减少校准进度计算过程的工作量,从而使得目标电路的校准效率得到明显提升。
主权项:1.一种带隙基准电路的校准方法,其特征在于,包括:获得多个测试温度的测试次序;确定目标电路在第一温度下的第一测试结果;所述第一温度为测试次序最早的测试温度;所述第一测试结果包括多个测试参数在所述第一温度下所对应的第一输出电压值;所述测试参数包括曲率校准编码和电压校准编码;根据所述第一测试结果,从多个所述测试参数中,获得第一集合;所述第一集合包括所对应的第一输出电压值满足预设阈值,且曲率校准编码不同的多个测试参数;确定所述目标电路在第二温度下的第二测试结果;所述第二温度的测试次序晚于所述第一温度;所述第二测试结果包括所述第一集合中每个测试参数在所述第二温度下所对应的第二输出电压值;根据所述第二测试结果,从所述第一集合所示各个测试参数中,获得第二集合;所述第二集合包括所对应的第二输出电压值满足所述预设阈值的测试参数;基于所述第二集合中校准精度最高的测试参数,确定为所述目标电路的校准参数;所述校准精度基于所述测试参数在不同测试温度下所对应的输出电压值所确定。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 国民技术股份有限公司 带隙基准电路的校准方法、装置、存储介质和电子设备
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