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申请/专利权人：南京航天工业科技有限公司

摘要：本发明公开了一种用于多通道ADDA芯片测试的方法及系统，该方法基于测试系统实现，该方法包括如下步骤：开启测试系统，进行系统自检，调用系统补偿模块进行系统参数补偿；采集并评估环境参数，并基于环境参数调用自适应补偿模块和测试条件评估模块，获得环境补偿参数和测试条件评估结果；响应输入的测试基础数据，并结合系统参数补偿、环境补偿参数和测试条件评估结果，调用预配置的动态调度算法模块，生成测试参数并发送到信号发生装置；接收信号分析装置的测试数据，并采用预配置的自动化分析模块分析测试数据并输出测试结果；获取测试过程参数和测试结果，对测试方案进行反馈和评分，并输入上位机。本方法提高了测试效率和准确率。

主权项：1.用于多通道ADDA芯片测试的方法，基于测试系统实现，测试系统包括通信连接的上位机、信号发生装置、待测装置和信号分析装置，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1、开启测试系统，进行系统自检，调用系统补偿模块进行系统参数补偿；步骤S2、采集并评估环境参数，并基于环境参数调用自适应补偿模块和测试条件评估模块，获得环境补偿参数和测试条件评估结果；步骤S3、响应输入的测试基础数据，并结合系统参数补偿、环境补偿参数和测试条件评估结果，调用预配置的动态调度算法模块，生成测试参数并发送到信号发生装置；步骤S4、接收信号分析装置的测试数据，并采用预配置的自动化分析模块分析测试数据并输出测试结果；步骤S5、获取测试过程参数和测试结果，对测试方案进行反馈和评分，并输入上位机；所述步骤S2中，自适应补偿模块的构建过程具体为：步骤S21、获取测试环境所需要的各个温度区间下的系统传输参数，构建系统损失模型的训练集；所述系统传输参数包括S参数；步骤S22、读取系统传输参数，提取幅频和相频响应数据；通过电磁仿真或应力分析获取温度变化引起的系统物理参数的变化值；基于系统传输参数的测量数据和系统物理参数的变化值，构建多温度下系统损失的系统损失模型训练集；步骤S23、构建系统损失模型并设定模型参数服从ARD先验分布，通过ARD先验为模型参数引入独立的超参数，控制每个参数的先验方差；通过超参数的自适应估计，确定系统损失模型中的相关温度变量和频率分量；步骤S24、通过变分推断方法估计ARD超参数后验分布，获取率定的模型参数和置信区间；将率定参数后的系统损失模型配置到上位机中，并每隔预定时段，对系统损失模型的参数进行在线更新；测试条件评估模块的构建过程具体为：步骤S25、收集各个测试条件下的参数配置数据，形成高维的测试参数空间；采用局部线性嵌入算法，学习参数空间的低维流形结构；通过非线性降维，提取测试参数空间的关联特征；在低维流形上选择具有代表性的测试参数组合；步骤S26、将测试参数空间的低维表示划分为若干子区域，在每个子区域内进行局部字典学习；通过K-SVD方法构建各子区域的过完备字典，获得稀疏表示的测试参数；根据测试参数分布的变化，动态调整子区域划分和字典原子；采用正交匹配追踪算法在字典中选择最优的测试基向量，表征关键测试条件；步骤S27、在使用时，根据输入的测试条件数据提取关键测试条件，并预存储在上位机中；所述步骤S3中动态调度算法模块的构建和使用过程具体为：步骤S31、提取包括测试要求、测试流程和测试设备参数在内的基础数据，构建测试任务有向图；步骤S32、读取测试任务有向图并评估、筛选和动态优化，识别不同测试指标之间的因果链；采用因果推理驱动，构建测试场景因果模型，将测试场景分层进行表示与解耦；步骤S33、结合解耦后的测试场景，调用预配置的动态调度算法模块，生成测试参数并发送到信号发生装置。

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百度查询： 南京航天工业科技有限公司 用于多通道AD/DA芯片测试的方法及系统