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申请/专利权人：三星电子株式会社
摘要：提供了一种循环冗余校验系统和循环冗余校验方法。所述CRC系统包括数据折叠处理电路和CRC处理电路。数据折叠处理电路包括：第一比特折叠电路，被配置为将第一输入数据折叠为第一折叠数据，第二比特折叠电路，被配置为将第二输入数据折叠为第二折叠数据，以及流折叠电路，被配置为基于第一折叠数据和第二折叠数据生成第一折叠流数据。CRC处理电路包括：第一触发器，被配置为接收并存储第一循环的第一被除数数据，第二触发器，被配置为接收并存储第一循环的第一折叠流数据，以及CRC逻辑，被配置为对第一被除数数据和第一折叠流数据执行CRC操作。
主权项：1.一种循环冗余校验系统，所述循环冗余校验系统包括：数据折叠处理电路；以及循环冗余校验处理电路，其中，数据折叠处理电路包括：第一比特折叠电路，被配置为：将第一输入数据折叠为第一折叠数据；第二比特折叠电路，被配置为：将第二输入数据折叠为第二折叠数据；以及流折叠电路，被配置为：基于第一折叠数据和第二折叠数据，生成第一折叠流数据，并且其中，循环冗余校验处理电路包括：第一触发器，被配置为：接收并存储第一循环的第一除数数据；第二触发器，被配置为：接收并存储第一循环的第一折叠流数据；以及循环冗余校验逻辑，被配置为：对第一除数数据和第一折叠流数据执行循环冗余校验操作。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 三星电子株式会社 循环冗余校验系统和循环冗余校验方法
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