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申请/专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
摘要：本申请涉及一种元器件失效分析方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取针对待分析元器件的多个失效信息和分析方式序列，将各失效信息分别进行词向量转化，得到各失效信息各自的失效词向量，针对分析方式序列中的每一分析方式，从各失效信息中，确定与分析方式匹配的目标信息，基于目标信息的失效词向量，对待分析元器件进行失效分析，确定待分析元器件对应于分析方式的失效现象，不限于只能从实际试验中得到待分析元器件的失效现象，采用上述方法，由于各失效现象中包含了各分析方式中的先后顺序，基于各分析方式各自对应的失效现象，确定待分析元器件的失效原因，提高了所得到的失效原因的准确性。
主权项：1.一种元器件失效分析方法，其特征在于，所述方法包括：获取针对待分析元器件的多个失效信息和分析方式序列；将各所述失效信息分别进行词向量转化，得到各所述失效信息各自的失效词向量；针对所述分析方式序列中的每一分析方式，从各所述失效信息中，确定与所述分析方式匹配的目标信息；基于所述目标信息的失效词向量，对所述待分析元器件进行失效分析，确定所述待分析元器件对应于所述分析方式的失效现象；基于各所述分析方式各自对应的失效现象，确定所述待分析元器件的失效原因。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) 元器件失效分析方法、装置、计算机设备和存储介质
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