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申请/专利权人：河北光兴半导体技术有限公司;北京盛达众安科技有限公司
摘要：本发明提供了一种含气泡缺陷的超薄玻璃密度测试方法，包括玻璃试件中气泡数量的初步计算：获取玻璃试件，然后用强光手电照射玻璃试件，通过反射光线可以看到气泡缺陷，标记所有的气泡缺陷，统计出玻璃试件中气泡的数量n；光学显微镜测定每个气泡的尺寸：用擦净布将气泡缺陷处的两侧玻璃面擦拭干净，放在显微镜下观察，通过显微镜测得玻璃试件的气泡尺寸，计算出每个玻璃试件的气泡缺陷总体积；玻璃密度的测定：经气泡缺陷总体积修正后，计算修正后玻璃的最终密度值。本发明提供的含气泡缺陷的超薄玻璃密度测试方法，旨在能够解决现有技术中在测定玻璃密度时无法排除玻璃中气泡的影响，导致玻璃的密度计算偏差较大的问题。
主权项：1.含气泡缺陷的超薄玻璃密度测试方法，其特征在于，包括：玻璃试件中气泡数量的初步计算：用玻璃刀切割超薄玻璃，获取玻璃试件，然后用强光手电照射玻璃试件，光线与玻璃试件表面的具有一定的夹角，通过反射光线可以看到气泡缺陷，标记所有的气泡缺陷，统计出玻璃试件中气泡的数量n；光学显微镜测定每个气泡的尺寸：用擦净布将气泡缺陷处的两侧玻璃面擦拭干净，放在显微镜下观察，通过显微镜测得玻璃试件的气泡尺寸，设定气泡的长轴尺寸为a、短轴尺寸为b，在玻璃厚度方向的轴长尺寸为c；气泡总体积的计算：将测得的每个气泡缺陷的轴长a、b、c带入上述公式，可以计算出每个玻璃试件的气泡缺陷总体积；玻璃密度的测定：经气泡缺陷总体积修正后，为修正后玻璃的最终密度值。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 河北光兴半导体技术有限公司 北京盛达众安科技有限公司 含气泡缺陷的超薄玻璃密度测试方法
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