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申请/专利权人：深圳超盈智能科技有限公司
摘要：本发明适用于设备测试的技术领域，提供了一种存储芯片的命令序列测试方法及装置，所述存储芯片的命令序列测试方法包括：获取预设测试命令序列，所述预设测试命令序列包括多个测试温度下对应的读写操作；分别执行多个所述测试温度下对应的读写操作，并采集读写异常信息；所述读写异常信息包括位翻转、读写错误和数据丢失根据所述读写异常信息、所述读写异常信息对应的读写操作次序，构建异常概率模型；根据所述异常概率模型预测存储芯片的使用寿命时长。本发明通过多维度的测试方法和准确的异常概率模型，能够更全面、更精确地评估存储芯片的使用寿命。
主权项：1.一种存储芯片的命令序列测试方法，其特征在于，所述存储芯片的命令序列测试方法包括：获取预设测试命令序列，所述预设测试命令序列包括多个测试温度下对应的读写操作；所述读写操作包括第一频率读写操作和第二频率读写操作；所述第一频率读写操作是基于正常读写操作使用频率设置的频率，所述正常读写操作使用频率基于统计数据而得，所述第二频率读写操作大于所述第一频率读写操作；分别执行多个所述测试温度下对应的读写操作，并采集读写异常信息；所述读写异常信息包括位翻转、读写错误和数据丢失；根据所述读写异常信息、所述读写异常信息对应的读写操作次序，构建异常概率模型；根据所述异常概率模型预测存储芯片的使用寿命时长。
全文数据：
权利要求：
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