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申请/专利权人：中国电子科技集团公司第二十研究所;中电科瑞测(西安)科技服务有限公司

摘要：本发明提供了一种基于PXI结构的塔康信号速度参数的校准方法及装置，将塔康信号模拟器连接至单定向耦合器的耦合向的一个直通端口，PXI矢量信号发生器板卡连接至定向耦合器的另一个直通端口，PXI信号分析模块连接至定向耦合器的耦合端口，PXI矢量信号发生器板卡的触发输出端口连接至PXI信号分析模块的触发输入端口，PXI零槽控制器、PXI矢量信号发生器板卡和PXI信号分析模块均连接至PXI总线。本发明节省了系统体积，集成了测试功能，并提高了校准准确度，使塔康信号速度参数能够最终溯源至国家标准。幅点的定位更准确，测量结果准确度也更高。

主权项：1.一种基于PXI结构的塔康信号速度参数的校准方法，其特征在于包括下述步骤：步骤一：连接PXI结构的测试系统；将塔康信号模拟器连接至单定向耦合器5的耦合向的一个直通端口，PXI矢量信号发生器板卡3连接至单定向耦合器5的另一个直通端口，PXI信号分析模块4连接至单定向耦合器5的耦合端口，PXI矢量信号发生器板卡3的触发输出端口连接至PXI信号分析模块4的触发输入端口；步骤二：设置PXI信号分析模块4的本振频率为GJB914的一个波道，使得PXI信号分析模块4根据GJB914设置为GJB914中应答信号的对应波道，并设置PXI矢量信号发生器板卡3发射带双脉冲调制的塔康激励信号，发射周期为t；激励信号的脉冲波形为前沿上升时间为2.0±0.25μs，10％～90％幅度，后沿下降时间为2.5±0.5μs，90％～10％幅度，半幅度点脉冲宽度为3.5±0.5μs的圆滑波形，发射周期为t的双脉冲信号；步骤三：将PXI信号分析模块4设置为触发采集模式；步骤四：开始采集应答信号，将每次触发后采集得到的波形在PXI零槽控制器2中进行存储；步骤五：调用PXI零槽控制器2中采集得到的每个波形文件，测量i次采集到的应答信号的前沿与触发信号之间的时间差为Ti，前沿为应答信号的50％幅度点；步骤六：根据测量得到的时间差Ti计算速度测量结果，计算公式为： 其中，C为光速，n为总测量次数，得到该速度测量结果后，提供给模拟器使用单位，用以修正模拟器速度值，校准被测设备。

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