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飞行时间质量分析仪中的碰撞截面测量 

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申请/专利权人:塞莫费雪科学(不来梅)有限公司

摘要:公开了一种飞行时间ToF质量分析仪,该ToF质量分析仪被配置为通过确定离子沿离子路径的飞行时间来确定离子的质荷比mz。一种操作质量分析仪的方法包括:在第一操作模式下操作该质量分析仪;通过确定离子沿该离子路径的飞行时间来分析该离子,以获得第一组数据;在第二操作模式下操作该质量分析仪;以及通过确定该离子沿该离子路径的飞行时间来分析该离子,以获得第二组数据。在该第一操作模式下,i该离子路径具有第一路径长度,并且ii该离子路径保持在第一压力下。在该第二操作模式下,i该离子路径具有第二路径长度,并且ii该离子路径保持在第二压力下。该第二路径长度不同于该第一路径长度并且或者该第二压力不同于该第一压力。该方法还包括将该第一组数据中的离子峰的强度与该第二组数据中的对应离子峰的强度进行比较,并且基于比较来确定与该对应离子峰相关联的该离子的碰撞截面CCS。

主权项:1.一种操作飞行时间ToF质量分析仪的方法,所述ToF质量分析仪被配置为通过确定离子沿离子路径的飞行时间来确定离子的质荷比mz,所述方法包括:在第一操作模式下操作质量分析仪,并且通过确定所述离子沿所述离子路径的飞行时间来分析离子,以获得第一组数据,其中在所述第一操作模式下,i所述离子路径具有第一路径长度,并且ii所述离子路径保持在第一压力下;在第二操作模式下操作所述质量分析仪,并且通过确定所述离子沿所述离子路径的飞行时间来分析离子,以获得第二组数据,其中在所述第二操作模式下,i所述离子路径具有第二路径长度,并且ii所述离子路径保持在第二压力下,其中所述第二路径长度不同于所述第一路径长度并且或者所述第二压力不同于所述第一压力;将所述第一组数据中的离子峰的强度与所述第二组数据中的对应离子峰的强度进行比较;以及基于比较来确定与所述对应离子峰相关联的离子的碰撞截面CCS。

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权利要求:

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