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申请/专利权人：北京集创北方科技股份有限公司
摘要：本发明公开了一种芯片测试系统及芯片测试方法。根据本发明实施例的芯片测试系统包括主控单元；选择单元，所述选择单元与所述主控单元相连接以接收选通信号，所述选择单元包括多个输出通道；其中，待测试芯片包括多个输出端，所述多个输出端分别电连接所述多个输出通道，所述待测试芯片与所述主控单元电连接，以接收所述主控单元提供的测试输入信号；所述选择单元根据所述选通信号选通所述多个输出通道中的至少一个输出通道；在至少一个所述输出通道选通时，与所述测试输入信号对应的测试输出信号经由选通的输出通道输出。根据本发明实施例的芯片测试系统及芯片测试方法，极大地提高了芯片测试的效率。
主权项：1.一种芯片测试系统，包括：主控单元；选择单元，所述选择单元与所述主控单元相连接以接收选通信号，所述选择单元包括多个输出通道；其中，待测试芯片包括多个输出端，所述多个输出端分别电连接所述多个输出通道，所述待测试芯片与所述主控单元电连接，以接收所述主控单元提供的测试输入信号；所述选择单元根据所述选通信号选通所述多个输出通道中的至少一个输出通道；在至少一个所述输出通道选通时，与所述测试输入信号对应的测试输出信号经由选通的输出通道输出。
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权利要求：
百度查询： 北京集创北方科技股份有限公司 芯片测试系统及芯片测试方法
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