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申请/专利权人：浜松光子学株式会社
摘要：测量装置1A具备干涉图像取得部2、荧光图像取得部3、运算部4和时序控制电路5。运算部4基于由干涉图像取得部2取得的干涉图像来制作光学厚度图像，并且制作表示由荧光图像取得部3取得的荧光图像中的像素值大于阈值的区域的掩模图像，并且在由光学厚度图像中的掩模图像表示的区域中求得光学厚度的积分值。由此，实现了能够精确测量样品中的对象物的量的装置和方法。
主权项：1.一种测量装置，其特征在于，具备：荧光图像取得部，其取得包括对象物的荧光图像；干涉图像取得部，其对于与所述荧光图像相同的视野取得包括所述对象物的干涉图像；以及运算部，其在对应于所述荧光图像中的像素值大于阈值的区域的所述干涉图像中的区域中，求得基于所述干涉图像的光学厚度的积分值，所述对象物是被荧光染色的细胞核，所述运算部基于所述干涉图像，制作具有表示各个位置处的光学厚度的像素值的光学厚度图像，并制作表示所述荧光图像中的像素值大于阈值的区域的掩模图像，并且在所述光学厚度图像中的所述掩模图像表示的区域中通过计算像素值的总和而求得所述光学厚度的积分值作为与所述细胞核的总量成比例的指标。
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