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申请/专利权人：国网江苏省电力有限公司常州供电分公司;国网江苏省电力有限公司电力科学研究院

摘要：本发明提供一种IC芯片电磁兼容性测试方法、装置和可读存储介质，其中，该方法应用于测试装置，测试装置包括测试探头和阻抗匹配网络；先校准测试探头，然后将测试探头连接IC芯片的待测试引脚，阻抗匹配网络连接实验接收机，阻抗匹配网络中设置有16.8nF电容；方法包括如下步骤：获取实验接收机的输出电压，并获取输出电压对应的测试频率；基于测试频率与电压阈值之间的映射关系获取测试频率对应的电压阈值，并判断输出电压是否大于电压阈值；若输出电压大于电压阈值，则判定待测试引脚不符合电磁兼容性要求；若输出电压小于或者等于电压阈值，则判定待测试引脚符合电磁兼容性要求。本发明提高了IC芯片电磁兼容性的测试效率。

主权项：1.一种IC芯片电磁兼容性测试方法，所述IC芯片电磁兼容性测试方法应用于测试装置，所述测试装置包括测试探头和阻抗匹配网络；所述测试探头连接校准实验电路，所述测试探头连接IC芯片的待测试引脚，所述阻抗匹配网络连接实验接收机，其特征在于，所述阻抗匹配网络中设置有16.8nF电容，所述方法包括如下步骤：S100，通过所述校准实验电路测量所述测试探头的探头电压和插入损耗；S200，计算所述探头电压和所述插入损耗之间的差值，并在所述差值大于预设的去耦限值时，执行步骤S300；S300，判定与所述测试探头连接的阻抗匹配网络处于正常状态，所述测试探头的校准操作成功；S400，获取所述实验接收机的输出电压，并获取所述输出电压对应的测试频率；S500，基于测试频率与电压阈值之间的映射关系获取所述测试频率对应的电压阈值，并判断所述输出电压是否大于所述电压阈值；若所述输出电压大于所述电压阈值，则执行步骤S600；若所述输出电压小于或者等于所述电压阈值，则执行步骤S700；S600，判定所述待测试引脚不符合电磁兼容性要求；S700，判定所述待测试引脚符合电磁兼容性要求；所述校准实验电路的输入端口与射频发生器连接，所述校准实验电路的输出端口与所述测试探头连接；在所述步骤S100中，所述通过所述校准实验电路测量所述测试探头的探头电压和插入损耗的步骤包括：当所述射频发生器与所述测试探头之间的跳线处于断开状态时，通过所述射频发生器在预设频率范围内进行扫频操作，以测量得到所述测试探头的探头电压；当所述射频发生器与所述测试探头之间的跳线处于连接状态时，通过所述射频发生器在预设频率范围内进行扫频操作，以测量得到所述测试探头的插入损耗；所述步骤S400中的所述输出电压获取方式为：以所述IC芯片作为信号发射器生成测试信号，测试信号经过所述阻抗匹配网络到达所述实验接收机，获取所述实验接收机输出的电压以得到所述输出电压；在计算所述探头电压和所述插入损耗之间差值过程中，先将所述探头电压的单位转换成分贝，然后再计算所述探头电压和所述插入损耗之间的差值。

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