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申请/专利权人：安立股份有限公司
摘要：本发明的课题在于不仅进行比特错误的测量，还同时进行Flit错误的测量。通过操作部2进行包含与以高速总线标准来定义的通道数相对应的EIEOS及SKPOS的Flit码型的1个周期、与通道数相对应的Flit长度、用于判别Flit错误的阈值、EIEOS的插入周期、Flit码型的码型起始以及同步条件阈值的设定。若基于Flit码型的比特串数据的PAM4信号从码型发生器3发送至回送状态的被测物，则错误检测器4的错误检测部44检测并计数从被测物接收到的PAM4信号的Flit相当部分的错误。Flit错误检测部45检测并计数Flit相当部分的每个ECCGroup的FEC符号错误，将FEC符号错误数超过了阈值的部分判定为Flit错误。
主权项：1.一种误码率测量装置，其具备进行设定的操作部2及接收从被测物W发送的基于Flit码型的比特串数据的PAM4信号并检测错误的错误检测器4，所述误码率测量装置的特征在于，所述操作部进行包含与以高速总线标准来定义的通道数相对应的EIEOS及SKPOS的Flit码型的1个周期、与通道数相对应的Flit长度、用于判别Flit错误的阈值、所述EIEOS的插入周期、所述Flit码型的码型起始以及同步条件阈值的设定，所述误码率测量装置具备码型发生器3，所述码型发生器3产生基于所述Flit码型的比特串数据的所述PAM4信号并发送至回送状态的所述被测物，所述错误检测器包括：错误检测部44，将从所述回送状态的所述被测物接收到的所述PAM4信号的相当于所述EIEOS及所述SKPOS的部分设为测量对象外而检测并计数相当于Flit的部分的错误；Flit错误检测部45，检测相当于所述Flit的部分的每个ECCGroup的FEC符号错误并计数FEC符号错误数，将FEC符号错误数超过了所述阈值的部分判定为Flit错误；及同步状态管理部46，当通过所述错误检测部检测出的相当于所述Flit的部分的错误的量超过了所述同步条件阈值时，指示重新获取所述Flit码型的码型起始。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 安立股份有限公司 误码率测量装置及误码率测量方法
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