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申请/专利权人：财团法人工业技术研究院
摘要：本发明提供一种阵列式透镜模块校准设备及其校准方法，其中该阵列式透镜模块校准设备包括承载平台、视觉定位模块、激光对位模块、景深测量模块以及共面度调整模块。阵列式透镜模块具有光轴，并包括基板、校准通孔、多个镜框以及多个透镜组。视觉定位模块用以提供视觉定位光束至阵列式透镜模块，并对阵列式透镜模块的外观进行取像以获得外观信息。激光对位模块用以提供校准激光光束通过阵列式透镜模块后成像，以获得对位信息。景深测量模块用以对多个透镜组进行景深取像，以获得多个透镜组的景深信息。共面度调整模块用以依据外观信息、对位信息及景深信息调整多个镜框分别与基板在光轴方向上的相对位置。
主权项：1.一种阵列式透镜模块校准设备，其特征在于，包括：承载平台，用以承载阵列式透镜模块，所述阵列式透镜模块具有光轴，并包括基板、通过所述基板的校准通孔、配置于所述基板的多个镜框以及分别配置于所述多个镜框内的多个透镜组；视觉定位模块，用以提供视觉定位光束至所述阵列式透镜模块，并对所述阵列式透镜模块的外观进行取像以获得所述阵列式透镜模块的外观信息；激光对位模块，用以提供校准激光光束通过所述阵列式透镜模块的所述校准通孔及所述多个透镜组后成像，以获得对位信息；景深测量模块，用以对所述多个透镜组进行景深取像以获得所述多个透镜组的景深信息；以及共面度调整模块，用以依据所述外观信息、所述对位信息及所述景深信息调整所述多个镜框分别与所述基板在平行于所述光轴的光轴方向上的相对位置。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 财团法人工业技术研究院 阵列式透镜模块校准设备及其校准方法
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