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申请/专利权人：中国电子科技集团公司第四十一研究所
摘要：本发明属于红外探测器性能测试技术领域，提出了一种红外探测器黑体响应率及探测率测试系统及方法，将安装座和前置放大器放到屏蔽盒内，前置放大器连接有用于测量响应信号和噪声信号的频谱仪，以及频谱仪连接有用于计算黑体响应率及探测率的计算机，实现了黑体响应率及探测率的测试；导轨可以沿入射光轴方向进行水平调节，方便根据不同响应的探测器调整测试距离；屏蔽盒能够对探测器及前置放大器进行多重电磁屏蔽，保证了测试精度；同时，安装座上设置有阵列分布的多个排母，能够根据被测探测器的引脚间距，任意在多个排母中选择适配的排母进行连接；在保证测试精度的基础上，能够适用于不同的探测器封装类型和引脚结构，提高了适用性。
主权项：1.一种红外探测器黑体响应率及探测率测试系统，其特征在于，包括导轨和屏蔽盒；所述屏蔽盒朝向所述导轨的侧面上开设有入光口；所述导轨上设置有黑体；所述屏蔽盒内，设置有用于安装被测光电探测器的安装座，以及前置放大器；所述前置放大器连接有用于测量响应信号和噪声信号的频谱仪；所述频谱仪连接有用于计算黑体响应率及探测率的计算机；所述安装座上设置有阵列分布的多个排母；根据被测探测器的引脚间距，任意在多个排母中选择适配的排母进行连接。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种红外探测器黑体响应率及探测率测试系统及方法
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