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一种功耗评估方法和装置 

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申请/专利权人:鼎道智芯(上海)半导体有限公司

摘要:本申请实施例公开了一种功耗评估方法和装置,该方法包括:获取待评估功耗的功耗模块的功耗仿真数据;利用经过训练的功耗评估模型,对功耗仿真数据进行处理得到目标功耗曲线;其中,处理至少包括基于与功耗模块对应的功耗差值参数和由功耗仿真数据拟合得到的功耗仿真曲线,得到目标功耗曲线;功耗差值参数为功耗评估模型的内置参数,用于表征目标功耗评估值与功耗仿真值之间的差异。

主权项:1.一种功耗评估方法,包括:获取待评估功耗的功耗模块的功耗仿真数据;利用经过训练的功耗评估模型,对所述功耗仿真数据进行处理得到目标功耗曲线;其中,所述处理至少包括基于与所述功耗模块对应的功耗差值参数和由所述功耗仿真数据拟合得到的功耗仿真曲线,得到目标功耗曲线;所述功耗差值参数为所述功耗评估模型的内置参数,用于表征目标功耗评估值与功耗仿真值之间的差异。

全文数据:

权利要求:

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