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申请/专利权人：深圳大普微电子股份有限公司
摘要：本申请实施例涉及存储设备应用领域，公开了一种测试方法、存储控制芯片、调度设备及测试系统，调度设备与测试设备连接，测试设备与闪存设备连接，方法包括：基于每一个测试用例对测试环境的属性要求，对测试用例进行分类，得到若干个子用例集；按照子用例集的优先级顺序，确定闪存设备在若干个子用例集中匹配的测试用例；控制测试设备执行测试用例，以对闪存设备进行测试，得到测试结果。通过基于测试用例对测试环境的属性要求，对测试用例分类得到子用例集，按照子用例集的优先级顺序，确定闪存设备在若干个子用例集中匹配的测试用例，本申请能够满足不同测试环境的测试需求，控制测试设备执行与测试环境匹配的测试用例。
主权项：1.一种测试方法，其特征在于，应用于调度设备，所述调度设备与测试设备连接，所述测试设备与闪存设备连接，所述方法包括：基于每一个测试用例对测试环境的属性要求，对测试用例进行分类，得到若干个子用例集；按照子用例集的优先级顺序，确定所述闪存设备在若干个子用例集中匹配的测试用例；控制所述测试设备执行所述测试用例，以对所述闪存设备进行测试，得到测试结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳大普微电子股份有限公司 测试方法、存储控制芯片、调度设备及测试系统
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