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一种H桥拓扑电路的短路故障检测方法 

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申请/专利权人:西安奇点能源股份有限公司

摘要:本发明提供一种H桥拓扑电路的短路故障检测方法,H桥拓扑电路的短路故障检测方法包括:S‑1:检测H桥拓扑电路中器件是否发生短路故障,若否,检测结束;S‑2:若器件发生短路故障,则对所述H桥拓扑电路的直流侧外加直流电源,并通入电流;S‑3:基于通电后所述H桥拓扑电路中各器件的阻抗差异,对故障器件进行定位。根据本发明通过判断器件是否发生短路故障后,通过对检测H桥拓扑电路的直流侧加直流电源并调整直流电源的大小,利用已短路损坏MOSFET和正常MOSFET的DS阻抗差异,使得能清楚获取到检测H桥拓扑电路所对应器件的发热状况,通过对应器件发热的差异化,可以定位出正常和故障器件的位置,做到快速、精准化的定位。

主权项:1.一种H桥拓扑电路的短路故障检测方法,其特征在于,包括:S-1:检测H桥拓扑电路中器件是否发生短路故障,若否,检测结束;S-2:若器件发生短路故障,则对所述H桥拓扑电路的直流侧外加直流电源,并通入电流;S-3:基于通电后所述H桥拓扑电路中各器件的阻抗差异,对故障器件进行定位。

全文数据:

权利要求:

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