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缺陷检查装置及缺陷检查方法 

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申请/专利权人:日本电产株式会社

摘要:本发明提供一种缺陷检查装置及缺陷检查方法,其针对拍摄到的多张拍摄图像的每一张拍摄图像执行多个步骤的处理,并利用例如语义分割处理来检测缺陷以生成多个标签图像,并对多个标签图像进行合成以生成第一合成图像,从而即使缺陷在检查对象上的分布较广,也能够对检查对象上的缺陷整体的面积进行判定。

主权项:1.一种缺陷检查装置,包括照明灯、摄像头、照明区域提取图像生成部、遮蔽用图像生成部、照明周边区域提取图像生成部、标签图像生成部、合成图像生成部、以及判定部,所述缺陷检查装置执行如下步骤:A利用线状的所述照明灯以照明区域对具有缺陷的透明的检查对象进行照射,并利用隔着所述检查对象与所述照明灯相对配置的所述摄像头来拍摄被照射的所述检查对象,以得到拍摄图像;B所述照明区域提取图像生成部对所述拍摄图像进行二值化处理来提取所述照明区域,以生成照明区域提取图像;C所述遮蔽用图像生成部以所述照明区域为基础对所述照明区域提取图像进行扩展处理,以生成遮蔽用图像;D所述照明周边区域提取图像生成部对所述拍摄图像和所述遮蔽用图像进行合成,以生成照明周边区域提取图像;E所述标签图像生成部对所述照明周边区域提取图像进行区域提取处理来检测缺陷,以生成标签图像;F以预定的间隔移动所述照明灯或所述检查对象,重复多次所述步骤A、所述步骤B、所述步骤C、所述步骤D、所述步骤E以生成多个所述拍摄图像、多个所述照明区域提取图像、多个所述遮蔽用图像、多个所述照明周边区域提取图像、多个所述标签图像,然后所述合成图像生成部对多个所述标签图像进行合成,以生成第一合成图像;以及G所述判定部根据所述第一合成图像,对所述缺陷的面积进行判定。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 日本电产株式会社 缺陷检查装置及缺陷检查方法

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