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申请/专利权人：中国电子科技集团公司第三十八研究所
摘要：本发明涉及一种用于天线阵面姿态带罩标定方法及装置，属于天线测量技术领域。标定方法包括：获取天线阵面水平方向的顶部的中点和底部的中点；获取天线阵面竖直方向的左侧的中点和右侧的中点；将获取的中点作为测量基准点，获取测量基准点的坐标值；根据测量基准点建立阵面坐标系，获取测量基准点在阵面坐标系的新坐标值；获取测量基准点沿天线阵面法线在天线罩上的投影点；获取投影点的坐标值；将投影点作为标记点，根据天线测量标校的坐标系，重新测量标记点的坐标值；根据标记点计算天线阵面的姿态信息。本发明通过将天线阵面测量基准点转换到天线罩上，从而实现在后续测试过程中通过对天线罩的标志点的测量得到天线阵面的姿态信息。
主权项：1.一种用于天线阵面姿态带罩标定方法，其特征在于，所述标定方法包括：获取天线阵面水平方向的顶部的中点和底部的中点；获取天线阵面竖直方向的左侧的中点和右侧的中点；将获取的所述中点作为测量基准点，获取所述测量基准点的坐标值；根据所述测量基准点建立阵面坐标系，获取所述测量基准点在所述阵面坐标系的新坐标值；获取所述测量基准点沿天线阵面法线在天线罩上的投影点；获取所述投影点的坐标值；将所述投影点作为标记点，根据天线测量标校的坐标系，重新测量所述标记点的坐标值；根据所述标记点计算所述天线阵面的姿态信息。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国电子科技集团公司第三十八研究所 用于天线阵面姿态带罩标定方法及装置
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