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申请/专利权人：芯梦达半导体科技(济南)有限公司
摘要：一种内存检测方法及其检测系统，内存检测方法包括：提供第一内存及第二内存；拆卸第一内存上的一个第一记忆芯片；将第二内存上的一个第二记忆芯片装设在测试位置；将第一内存设置在测试装置中驱动第一内存，使第一内存的第一记忆芯片产生第一信号，并使第一内存上的所述第二记忆芯片产生第二信号；和比较第一信号和第二信号，并产生触发信号。内存检测系统，包括测试装置、差分放大器、低通滤波器以及阈值产生器。第一记忆芯片和第二记忆芯片设置在测试装置上，差分放大器与第一记忆芯片和第二记忆芯片相连接，低通滤波器与差分放大器的输出端相连接。阈值产生器与低通滤波器的输出端相连接。
主权项：1.一种内存检测方法，其特征在于，包括：提供第一内存及第二内存，其中所述第一内存和所述第二内存由不同的厂商制造；拆卸所述第一内存上的一个第一记忆芯片，使所述第一内存上形成测试位置，其中所述第一内存包括多个第一记忆芯片；将所述第二内存上的一个第二记忆芯片装设在所述测试位置；将所述第一内存设置在测试装置中驱动所述第一内存，使所述第一内存上未拆卸的第一记忆芯片产生第一信号，并使所述第一内存上的所述第二记忆芯片产生第二信号；和比较所述第一信号和所述第二信号之间的差异电平，当所述差异电平大于预设值时产生触发信号，以判断内存的检测结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 芯梦达半导体科技(济南)有限公司 内存检测方法及其检测系统
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