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申请/专利权人：株式会社电装
摘要：本发明的测距装置10具备：照射部20；受光部30，具有多个受光要素31排列为面状而成的受光面S1，将像素范围内的受光要素的集合作为一个像素，并输出与各像素所包含的受光要素的受光状态对应的受光信号；距离图像获取部50，利用受光信号获取表示各像素中的到照射光的照射范围内的物体为止的距离的距离图像；背景光图像获取部60，利用受光信号获取背景光图像；信息获取部81，获取与背景光的强度相关的强度相关信息；以及分辨率控制部82，根据与强度相关信息相关的背景光的强度，分别独立地对距离图像和背景光图像设定像素范围的大小控制分辨率。
主权项：1.一种测距装置，是测定到对象物为止的距离的测距装置，具备：照射部，照射照射光；受光部，具有多个受光要素排列为面状而成的受光面，将像素范围内的上述受光要素的集合作为一个像素，并输出与各像素所包含的上述受光要素的受光状态对应的受光信号，上述像素范围的大小设定为能够变更；距离图像获取部，利用输出的上述受光信号，获取距离图像，该距离图像表示各像素中的到包含上述对象物的上述照射光的照射范围内的物体为止的距离；背景光图像获取部，利用输出的上述受光信号，获取表示各像素中的背景光的受光强度的背景光图像；信息获取部，获取与上述背景光的强度相关的强度相关信息；以及分辨率控制部，根据与获取的上述强度相关信息相关的上述背景光的强度，分别独立地对上述距离图像和上述背景光图像设定上述像素范围的大小，控制上述距离图像的分辨率和上述背景光图像的分辨率。
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