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申请/专利权人：浙江芯劢微电子股份有限公司
摘要：本发明涉及芯片测试技术领域中的一种检测芯片损坏的方法和系统，包括以下步骤：生成测试源数据，并将测试源数据写入初始化通过DDR芯片的起始地址上，得到中间源数据；获取初始化通过DDR芯片的地址编号，并根据地址编号的顺序，将前一地址编号的存储地址内的中间源数据复制到后一地址编号的存储地址上，直至中间源数据复制到终止地址上；获取终止地址上的中间源数据，得到目标数据；比对目标数据与测试源数据，判断初始化通过DDR芯片是否损坏，具有测试时间短的优点，突破了在norflash速度、CPU主频和FT测试时间的要求下，导致DDR不能全速、全容量以及大容量测试的瓶颈。
主权项：1.一种检测芯片损坏的方法，其特征在于，包括以下步骤：生成测试源数据，并将所述测试源数据写入初始化通过DDR芯片的起始地址上，得到中间源数据，其中，生成测试源数据，包括以下步骤：生成固定大小的随机数，并将所述随机数的部分字节数据进行修改，得到测试源数据，且将所述随机数的部分字节数据进行修改，包括以下步骤：获取所述随机数的所有字节数据，设定提取间隔，并每隔一个提取间隔提取一组字节数据，得到提取数据；将所述提取数据修改为0×ff或0×00；获取初始化通过DDR芯片的地址编号，并根据所述地址编号的顺序，将前一地址编号的存储地址内的中间源数据复制到后一地址编号的存储地址上，直至所述中间源数据复制到终止地址上；获取所述终止地址上的中间源数据，得到目标数据；比对所述目标数据与测试源数据，判断所述初始化通过DDR芯片是否损坏。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 浙江芯劢微电子股份有限公司 一种检测芯片损坏的方法和系统
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