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申请/专利权人：太湖金张科技股份有限公司

摘要：本发明公开了一种硅胶保护膜的硅转移测试方法，涉及硅转移测试方法技术领域，包括以下步骤：取两块硅胶保护膜样品的试样G1、G2；取塑料薄膜试样P1、P2、P3；揭去G1、G2上的保护层，将其分别贴附于P1和P2上，静置，分别标记为GP1、GP2；其中，GP1、GP2对应的静置时间分别记为T1、T2，T1≠T2；取胶带a、b、c；将P1从GP1上揭下，与a胶带贴附，静置，施加作用力F1使其分离；将P2从GP2上揭下，与b胶带贴附，静置，施加作用力F2使其分离；将胶带c贴附于P3上，静置，施加作用力F3使其分离；T1的硅转移率P1＝1‑F1F3×100％，T2的硅转移率P2＝1‑F2F3×100％，硅胶保护膜的硅转移率P＝P1+P22。本发明方法简单、可同时进行多组重复性测试，测试准确度高。

主权项：1.一种硅胶保护膜的硅转移测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、取硅胶保护膜样品，裁取两块面积形状相等的试样，标记为G1、G2；其中，硅胶保护膜的结构从下到上依次由基材层、硅胶压敏层和保护层组成；S2、取塑料薄膜，裁取三块面积形状相等的试样，标记为P1、P2、P3；S3、揭去硅胶保护膜G1、G2上的保护层，将硅胶压敏层分别贴附于P1和P2上，施加作用力使其紧密贴合，静置，分别标记为GP1、GP2；其中，GP1的静置时间记为T1，GP2中的静置时间记为T2，T1≠T2；S4、截取3段宽度、长度和厚度一致的胶带，标记为胶带a、b、c；S5、将P1从静置后的GP1上揭下，揭下来的P1标记为P1'，将a胶带贴附于P1'揭除面上，施加作用力使其紧密贴合，静置，静置时间记为T3，从胶带a一端施加作用力使胶带与P1'分离，施加的作用力记作F1；按照同样的方法将P2从静置后的GP2上揭下，揭下来的P2标记为P2'，将b胶带贴附于P2'揭去面上，施加作用力使其紧密贴合，静置，静置时间记为T4，从胶带b一端施加作用力使胶带与P2'分离，施加的作用力记作F2；S6、将胶带c贴附于P3上，施加作用力使其紧密贴合，静置，静置时间记为T5，从胶带c一端施加作用力使胶带与P3分离，施加的作用力记作F3；其中，T3=T4=T5；S7、设置范围并计算转移率P，其中静置时间T1的硅转移率P1＝（1-F1F3）×100%，静置时间T2的硅转移率P2=（1-F2F3）×100%，硅胶保护膜的硅转移率P=（P1+P2）2；上述步骤S3、S5、S6中，紧密贴合施加的作用力相同；S2中，静置时间T1为0.5～12h；静置时间T2为12～24h；S5中，静置时间T3=T4=T5，为20～40min。

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