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检测系统 

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申请/专利权人:清华大学;同方威视技术股份有限公司;同方威视科技(北京)有限公司

摘要:本实用新型涉及一种检测系统,包括第一射线源、第二射线源、第一探测器、第二探测器、第三探测器和第四探测器,第一射线源和第二射线源均被配置为向被检物发射射线,第一探测器设置于被检物的远离第一射线源的一侧,第一探测器被配置为接收第一射线源发射的穿透被检物的射线,第二探测器设置于被检物的远离第二射线源的一侧,第二探测器被配置为接收第二射线源发射的穿透被检物的射线,第三探测器与第一射线源设置于被检物的同侧,第三探测器被配置为接收第一射线源发射的经被检物散射后的射线,第四探测器与第二射线源设置于被检物的同侧,第四探测器被配置为接收第二射线源发射的经被检物散射后的射线。

主权项:1.一种检测系统,其特征在于,包括:第一射线源1,被配置为向被检物10发射射线;第二射线源2,被配置为向所述被检物10发射射线;第一探测器3,设置于所述被检物10的远离所述第一射线源1的一侧,所述第一探测器3被配置为接收所述第一射线源1发射的穿透所述被检物10的射线;第二探测器4,设置于所述被检物10的远离所述第二射线源2的一侧,所述第二探测器4被配置为接收所述第二射线源2发射的穿透所述被检物10的射线;第三探测器5,与所述第一射线源1设置于所述被检物10的同侧,所述第三探测器5被配置为接收所述第一射线源1发射的经所述被检物10散射后的射线;和第四探测器6,与所述第二射线源2设置于所述被检物10的同侧,所述第四探测器6被配置为接收所述第二射线源2发射的经所述被检物10散射后的射线。

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权利要求:

百度查询: 清华大学 同方威视技术股份有限公司 同方威视科技(北京)有限公司 检测系统

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