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申请/专利权人：北京环境特性研究所
摘要：本发明涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种多层随机介质点扩展函数的计算方法及装置。方法包括：计算多层随机介质中每层随机介质的物理参数；物理参数包括随机介质的散射系数、吸收系数和折射率；基于每层随机介质的厚度和物理参数，计算各层随机介质的点扩展函数；计算出射随机介质层的点扩展函数，出射随机介质层为多层随机介质中距离待测目标最近的一层；基于各层随机介质的点扩展函数和出射随机介质层的点扩展函数，计算多层随机介质的综合点扩展函数，多层随机介质的综合点扩展函数用于表征光穿透多层随机介质后的光强度分布。本申请，能够有效计算光穿透多层随机介质之后的光强度分布，提高探测精度。
主权项：1.一种多层随机介质点扩展函数的计算方法，其特征在于，包括：计算多层随机介质中每层随机介质的物理参数；所述物理参数包括随机介质的散射系数、吸收系数和折射率；基于每层随机介质的厚度和物理参数，计算各层随机介质的点扩展函数；计算出射随机介质层的点扩展函数，所述出射随机介质层为所述多层随机介质中距离待测目标最近的一层；基于各层随机介质的点扩展函数和所述出射随机介质层的点扩展函数，计算所述多层随机介质的综合点扩展函数，所述多层随机介质的综合点扩展函数用于表征光穿透所述多层随机介质后的光强度分布。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京环境特性研究所 多层随机介质点扩展函数的计算方法及装置
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