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申请/专利权人：苏州焜原光电有限公司
摘要：本发明提供了一种三维拓扑绝缘体自旋等离子体探测方法及设备，其包括：S1、在待检测样品表面制备耦合光栅；S2、通过太赫兹光持续照射耦合光栅，将探测偏振激光照射所述反射区后，得到携带反射区震荡信息的探测偏振激光；S3、对得到携带反射区震荡信息的探测偏振激光偏振分束后，测量各分离光束的光信号强度，当各分离光束的光信号强度不同时，待检测样品表面发生自旋波震荡。本发明使用太赫兹光激发特殊材料表面等离子体，并使用激光探测该等离子体振荡的自旋波特性的方法实现了基于磁光克尔效应的自旋波探测过程，此技术有效地形成传播型狄拉克等离激元，弥补了当前自旋波探测手段的空白，对于自旋等离激元的产生和利用具有重要意义。
主权项：1.一种三维拓扑绝缘体自旋等离子体探测方法，其特征在于：包括：步骤S1、在待检测样品表面划分光栅区及反射区，在所述光栅区中制备耦合光栅；步骤S2、通过太赫兹光持续照射所述耦合光栅，同时，将探测偏振激光照射所述反射区后，得到携带反射区震荡信息的探测偏振激光；步骤S3、对所述得到携带反射区震荡信息的探测偏振激光进行偏振分束后，分别测量各分离光束的光信号强度，当各分离光束的光信号强度相同时，认为所述待检测样品表面未发生自旋波震荡；当各分离光束的光信号强度不同时，认为所述待检测样品表面发生自旋波震荡。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 苏州焜原光电有限公司 一种三维拓扑绝缘体自旋等离子体探测方法及设备
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