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申请/专利权人：安徽大学
摘要：本发明公开一种单粒子翻转故障注入方法及平台，包括将待测模块复制为故障注入电路和非故障注入电路，且故障注入电路与非故障注入电路中相同时序单元之间连接状态存储单元；控制电路结构单元中的故障注入电路和非故障注入电路在相同的时钟下运行特定数量的周期，并将此时非故障注入电路的逻辑值保存至状态存储单元；向目标电路结构单元中的故障注入电路注入单粒子翻转故障，根据目标电路结构单元的运行状态判断是否出现故障；若是则根据相应状态存储单元中的逻辑值对目标电路结构单元的运行状态进行修复；否则对目标电路结构单元所对应状态存储单元中存储的逻辑值进行更新，进行下一次故障注入；本发明可实现连续快速的SEU故障注入和修复。
主权项：1.一种单粒子翻转故障注入方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：S1、将待测模块进行复制得到故障注入电路和非故障注入电路，所述故障注入电路和所述非故障注入电路均包含多个时序单元，且所述故障注入电路和所述非故障注入电路中相同的时序单元之间连接有状态存储单元；S2、在当前轮次故障注入实验过程中，控制所述故障注入电路和所述非故障注入电路在当前轮初始化状态下运行相同时钟周期后到达存档时刻，并将存档时刻所述非故障注入电路中时序单元的逻辑值保存至各时序单元对应的所述状态存储单元中；S3、选取存档时刻之后的设定时钟周期数内任意时刻作为故障注入时刻，在故障注入时刻向所述故障注入电路中目标时序单元注入单粒子翻转故障之后运行固定周期到达检查时刻，将检查时刻所述故障注入电路和所述非故障注入电路的运行状态进行比较判断是否出现故障，若是执行步骤S4，若否执行步骤S5；S4、利用目标时序单元对应的状态存储单元中存储的逻辑值对所述故障注入电路和所述非故障注入电路的运行状态进行修复；S5、将检查时刻的后一时钟周期作为下一存档时刻，根据下一存档时刻所述非故障注入电路中时序单元的逻辑值对各状态存储单元中存储的逻辑值进行更新，并重复执行步骤S3进行下一次故障注入。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 安徽大学 单粒子翻转故障注入方法及平台
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